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  • Unidade: EESC

    Subjects: ÓPTICA, HOLOGRAFIA DIGITAL, ESTEREOSCOPIA, CÉLULAS SOLARES, SILÍCIO

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    • ABNT

      MARTINS, Augusto. Metasurfaces for control of light propagation and diffractive optics applications. 2021. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2021. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18155/tde-17032021-115322/. Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Martins, A. (2021). Metasurfaces for control of light propagation and diffractive optics applications (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18155/tde-17032021-115322/
    • NLM

      Martins A. Metasurfaces for control of light propagation and diffractive optics applications [Internet]. 2021 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18155/tde-17032021-115322/
    • Vancouver

      Martins A. Metasurfaces for control of light propagation and diffractive optics applications [Internet]. 2021 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18155/tde-17032021-115322/
  • Unidade: IFSC

    Subjects: ÓPTICA, TERRAS RARAS, SILÍCIO, FOTOLUMINESCÊNCIA, INFRAVERMELHO

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    • ABNT

      GALLO, Ivan Braga. Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades. 2014. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2014. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/. Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Gallo, I. B. (2014). Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/
    • NLM

      Gallo IB. Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades [Internet]. 2014 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/
    • Vancouver

      Gallo IB. Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades [Internet]. 2014 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/
  • Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC

    Subjects: FILMES FINOS, ÓPTICA, SILÍCIO

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    • ABNT

      GALLO, I. B. e ZANATTA, Antonio Ricardo. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities. Journal of Applied Physics, v. 113, n. 8, p. 083106-1-083106-7, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4793592. Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Gallo, I. B., & Zanatta, A. R. (2013). A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities. Journal of Applied Physics, 113( 8), 083106-1-083106-7. doi:10.1063/1.4793592
    • NLM

      Gallo IB, Zanatta AR. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities [Internet]. Journal of Applied Physics. 2013 ; 113( 8): 083106-1-083106-7.[citado 2024 ago. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4793592
    • Vancouver

      Gallo IB, Zanatta AR. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities [Internet]. Journal of Applied Physics. 2013 ; 113( 8): 083106-1-083106-7.[citado 2024 ago. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4793592
  • Unidade: EP

    Subjects: ÓPTICA, LASER, ESPALHAMENTO, SILÍCIO

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    • ABNT

      SOUZA FILHO, José Cândido de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício. 2008. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2008. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/. Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Souza Filho, J. C. de. (2008). Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/
    • NLM

      Souza Filho JC de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício [Internet]. 2008 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/
    • Vancouver

      Souza Filho JC de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício [Internet]. 2008 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/
  • Unidade: EP

    Subjects: ÓPTICA, CORROSÃO, SILÍCIO, FABRICAÇÃO (MICROELETRÔNICA)

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    • ABNT

      MEDEIROS, Marina Sparvoli de. Fabricação de elementos ópticos difrativos de modulação completa. 2007. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2007. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09012008-173703/. Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Medeiros, M. S. de. (2007). Fabricação de elementos ópticos difrativos de modulação completa (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09012008-173703/
    • NLM

      Medeiros MS de. Fabricação de elementos ópticos difrativos de modulação completa [Internet]. 2007 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09012008-173703/
    • Vancouver

      Medeiros MS de. Fabricação de elementos ópticos difrativos de modulação completa [Internet]. 2007 ;[citado 2024 ago. 13 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09012008-173703/
  • Source: Livro de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC

    Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, ESPECTROSCOPIA, ÓPTICA

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    • ABNT

      FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2007. . Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Livro de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
    • NLM

      Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 ago. 13 ]
    • Vancouver

      Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 ago. 13 ]
  • Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC

    Subjects: SILÍCIO, ESPECTROSCOPIA, FILMES FINOS (AMOSTRA;ESTUDO), ÓPTICA

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    • ABNT

      FERRI, F. A. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2007. . Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
    • NLM

      Ferri FA, Zanatta AR. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Resumos. 2007 ;[citado 2024 ago. 13 ]
    • Vancouver

      Ferri FA, Zanatta AR. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Resumos. 2007 ;[citado 2024 ago. 13 ]
  • Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC

    Subjects: SEMICONDUTORES, SILÍCIO, ÓPTICA, FILMES FINOS

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    • ABNT

      OLIVEIRA, Victor I. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. . Acesso em: 13 ago. 2024.
    • APA

      Oliveira, V. I., & Zanatta, A. R. (2005). Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
    • NLM

      Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 ago. 13 ]
    • Vancouver

      Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 ago. 13 ]

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