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  • Artigo de periodico

    Atomic-scale characterization of single and double layers of InAs and InAlAs Stranski-Krastanov quantum dots (2022)

    Gajjela, Raja Sekhar Reddy ; Alzeidan, Ahmad ; Curbelo, Victor Manuel Orlando ; Quivy, Alain André ; koenraad, Paul M

    Source: Physical Review Materials. Unidade: IF

    Assunto: MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GAJJELA, Raja Sekhar Reddy et al. Atomic-scale characterization of single and double layers of InAs and InAlAs Stranski-Krastanov quantum dots. Physical Review Materials, v. 6, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.6.114604. Acesso em: 11 ago. 2024.

    • APA

      Gajjela, R. S. R., Alzeidan, A., Curbelo, V. M. O., Quivy, A. A., & koenraad, P. M. (2022). Atomic-scale characterization of single and double layers of InAs and InAlAs Stranski-Krastanov quantum dots. Physical Review Materials, 6. doi:10.1103/PhysRevMaterials.6.114604

    • NLM

      Gajjela RSR, Alzeidan A, Curbelo VMO, Quivy AA, koenraad PM. Atomic-scale characterization of single and double layers of InAs and InAlAs Stranski-Krastanov quantum dots [Internet]. Physical Review Materials. 2022 ; 6[citado 2024 ago. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.6.114604

    • Vancouver

      Gajjela RSR, Alzeidan A, Curbelo VMO, Quivy AA, koenraad PM. Atomic-scale characterization of single and double layers of InAs and InAlAs Stranski-Krastanov quantum dots [Internet]. Physical Review Materials. 2022 ; 6[citado 2024 ago. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.6.114604

  • Relatorio tecnico

    Cross-sectional scanning tunneling microscopy of InAs/GaAs(001) submonolayer quantum dots (2020)

    Gajjela, R.S.R. ; Hendriks, A. L.; Koenraad, P M; Alzeidan, Ahmad; Cantalice, Tiago Fernandes de; Quivy, Alain André

    Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FÍSICA MODERNA, MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, SUPERFÍCIES, ÍNDIO (ELEMENTO QUÍMICO), ARSÊNIO

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GAJJELA, R.S.R. et al. Cross-sectional scanning tunneling microscopy of InAs/GaAs(001) submonolayer quantum dots. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2008.11711.pdf. Acesso em: 11 ago. 2024. , 2020

    • APA

      Gajjela, R. S. R., Hendriks, A. L., Koenraad, P. M., Alzeidan, A., Cantalice, T. F. de, & Quivy, A. A. (2020). Cross-sectional scanning tunneling microscopy of InAs/GaAs(001) submonolayer quantum dots. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2008.11711.pdf

    • NLM

      Gajjela RSR, Hendriks AL, Koenraad PM, Alzeidan A, Cantalice TF de, Quivy AA. Cross-sectional scanning tunneling microscopy of InAs/GaAs(001) submonolayer quantum dots [Internet]. 2020 ;[citado 2024 ago. 11 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2008.11711.pdf

    • Vancouver

      Gajjela RSR, Hendriks AL, Koenraad PM, Alzeidan A, Cantalice TF de, Quivy AA. Cross-sectional scanning tunneling microscopy of InAs/GaAs(001) submonolayer quantum dots [Internet]. 2020 ;[citado 2024 ago. 11 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2008.11711.pdf
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