Microscopía de fuerza atómica (2003)
Fonte: Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Unidade: IFSC
Assuntos: SEMICONDUTORES, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, METROLOGIA, INSTRUMENTOS DE PRECISÃO
ABNT
MAREGA JÚNIOR, Euclydes et al. Microscopía de fuerza atómica. Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Tradução . Madrid: CYTED, 2003. . . Acesso em: 25 jul. 2024.APA
Marega Júnior, E., González-Borrero, P. P., Rodrigues, S. G., & Alves, M. V. (2003). Microscopía de fuerza atómica. In Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Madrid: CYTED.NLM
Marega Júnior E, González-Borrero PP, Rodrigues SG, Alves MV. Microscopía de fuerza atómica. In: Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Madrid: CYTED; 2003. [citado 2024 jul. 25 ]Vancouver
Marega Júnior E, González-Borrero PP, Rodrigues SG, Alves MV. Microscopía de fuerza atómica. In: Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Madrid: CYTED; 2003. [citado 2024 jul. 25 ]