ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication (2006)
Forhan, Neisy Amparo Escobar; Fantini, Marcia ; Pereyra, Inés
Source: Journal of the Brazilian Chemical Society. Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, CRISTALOGRAFIA FÍSICA, ESPECTROSCOPIA RAMAN, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESPECTROSCOPIA INFRAVERMELHA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORHAN, Neisy Amparo Escobar e FANTINI, Marcia e PEREYRA, Inés. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication. Journal of the Brazilian Chemical Society, v. 17, n. 6, p. 1158-1162, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Forhan, N. A. E., Fantini, M., & Pereyra, I. (2006). Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication. Journal of the Brazilian Chemical Society, 17( 6), 1158-1162. doi:10.1590/S0103-50532006000600013
NLM
Forhan NAE, Fantini M, Pereyra I. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication [Internet]. Journal of the Brazilian Chemical Society. 2006 ; 17( 6): 1158-1162.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013
Vancouver
Forhan NAE, Fantini M, Pereyra I. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication [Internet]. Journal of the Brazilian Chemical Society. 2006 ; 17( 6): 1158-1162.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013
Artigo de periodico
Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation (2000)
Dirani, Ely Antonio Tadeu ; Andrade, Adnei Melges de ; Noda, Lúcia Kiyomi ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Santos, Paulo Sérgio
Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidades: EP, IQ
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, ESPECTROSCOPIA RAMAN, PLASMA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
DIRANI, Ely Antonio Tadeu et al. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 273, n. 1/3, p. 307-313, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Dirani, E. A. T., Andrade, A. M. de, Noda, L. K., Fonseca, F. J., & Santos, P. S. (2000). Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation. Journal of Non-Crystalline Solids, 273( 1/3), 307-313. doi:10.1016/s0022-3093(00)00177-0
NLM
Dirani EAT, Andrade AM de, Noda LK, Fonseca FJ, Santos PS. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2000 ; 273( 1/3): 307-313.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0
Vancouver
Dirani EAT, Andrade AM de, Noda LK, Fonseca FJ, Santos PS. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2000 ; 273( 1/3): 307-313.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0
Trabalho de evento-resumo
Transição de fase em silício amorfo/microcristalino hidrogenado observada por espectroscopia Raman (1998)
Dirani, Ely Antonio Tadeu ; Noda, Lúcia Kiyomi ; Andrade, Adnei Melges de ; Sala, Oswaldo; Santos, Paulo Sérgio
Conference titles: Reunião Anual da Sociedade Brasileira de Química. Unidades: IQ, EP
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, ESPECTROSCOPIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
DIRANI, Ely Antonio Tadeu et al. Transição de fase em silício amorfo/microcristalino hidrogenado observada por espectroscopia Raman. 1998, Anais.. São Paulo: SBQ, 1998. . Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Dirani, E. A. T., Noda, L. K., Andrade, A. M. de, Sala, O., & Santos, P. S. (1998). Transição de fase em silício amorfo/microcristalino hidrogenado observada por espectroscopia Raman. In . São Paulo: SBQ.
NLM
Dirani EAT, Noda LK, Andrade AM de, Sala O, Santos PS. Transição de fase em silício amorfo/microcristalino hidrogenado observada por espectroscopia Raman. 1998 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Vancouver
Dirani EAT, Noda LK, Andrade AM de, Sala O, Santos PS. Transição de fase em silício amorfo/microcristalino hidrogenado observada por espectroscopia Raman. 1998 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Trabalho de evento
X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling (1992)
Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; SANTOS, P. V.; Pereyra, Inés ; Páez Carreño, Marcelo Nelson
Conference titles: Brazilian School on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, SEMICONDUTORES, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu et al. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992, Anais.. Cingapura: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 1992. . Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Fantini, M. C. de A., SANTOS, P. V., Pereyra, I., & Páez Carreño, M. N. (1992). X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. In . Cingapura: Instituto de Física, Universidade de São Paulo.
NLM
Fantini MC de A, SANTOS PV, Pereyra I, Páez Carreño MN. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Vancouver
Fantini MC de A, SANTOS PV, Pereyra I, Páez Carreño MN. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992 ;[citado 2024 nov. 08 ]

USP Schools

ReP

Filtros

Authors

USP affiliated authors

Subjects