X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling (1992)
- Authors:
- USP affiliated authors: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF ; PEREYRA, INÊS - EP ; CARRENO, MARCELO NELSON PAEZ - EP
- Unidades: IF; EP
- Subjects: FÍSICO-QUÍMICA; SEMICONDUTORES; DIFRAÇÃO POR RAIOS X
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Conference titles: Brazilian School on Semiconductor Physics
-
ABNT
FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu et al. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992, Anais.. Cingapura: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 1992. . Acesso em: 29 dez. 2025. -
APA
Fantini, M. C. de A., SANTOS, P. V., Pereyra, I., & Páez Carreño, M. N. (1992). X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. In . Cingapura: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. -
NLM
Fantini MC de A, SANTOS PV, Pereyra I, Páez Carreño MN. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992 ;[citado 2025 dez. 29 ] -
Vancouver
Fantini MC de A, SANTOS PV, Pereyra I, Páez Carreño MN. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992 ;[citado 2025 dez. 29 ] - Microporos em a- 'SI ANTPOT.1-X' 'C ANTPOT.X': h do tipo diamante
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