Improved interfaces quality of a-Si:H/a-Si1-xCx:H multilayers (1992)
- Authors:
- USP affiliated authors: ALVAREZ, INES PEREYRA DE - EP ; CARRENO, MARCELO NELSON PAEZ - EP ; FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidades: EP; IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Centro Atomico Bariloche
- Publisher place: Bariloche
- Date published: 1992
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Latin-American Symposium on Surface Physics
-
ABNT
VELASQUEZ, E L Z et al. Improved interfaces quality of a-Si:H/a-Si1-xCx:H multilayers. 1992, Anais.. Bariloche: Centro Atomico Bariloche, 1992. . Acesso em: 01 abr. 2026. -
APA
Velasquez, E. L. Z., Fantini, M. C. de A., Páez Carreño, M. N., & Pereyra, I. (1992). Improved interfaces quality of a-Si:H/a-Si1-xCx:H multilayers. In Resumos. Bariloche: Centro Atomico Bariloche. -
NLM
Velasquez ELZ, Fantini MC de A, Páez Carreño MN, Pereyra I. Improved interfaces quality of a-Si:H/a-Si1-xCx:H multilayers. Resumos. 1992 ;[citado 2026 abr. 01 ] -
Vancouver
Velasquez ELZ, Fantini MC de A, Páez Carreño MN, Pereyra I. Improved interfaces quality of a-Si:H/a-Si1-xCx:H multilayers. Resumos. 1992 ;[citado 2026 abr. 01 ] - X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling
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