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  • Source: International Encyclopedia of Statistical Science. Unidade: IME

    Subjects: INFERÊNCIA BAYESIANA, HIPÓTESE, CÁLCULO DE PROBABILIDADE

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    • ABNT

      STERN, Julio Michael. e-Value: epistemic value of statistical hypotheses. International Encyclopedia of Statistical Science. Tradução . Heidelberg: Springer, 2025. p. 863-867. Disponível em: https://doi.org/10.1007/978-3-662-69359-9_188. Acesso em: 29 jan. 2026.
    • APA

      Stern, J. M. (2025). e-Value: epistemic value of statistical hypotheses. In International Encyclopedia of Statistical Science (p. 863-867). Heidelberg: Springer. doi:10.1007/978-3-662-69359-9_188
    • NLM

      Stern JM. e-Value: epistemic value of statistical hypotheses [Internet]. In: International Encyclopedia of Statistical Science. Heidelberg: Springer; 2025. p. 863-867.[citado 2026 jan. 29 ] Available from: https://doi.org/10.1007/978-3-662-69359-9_188
    • Vancouver

      Stern JM. e-Value: epistemic value of statistical hypotheses [Internet]. In: International Encyclopedia of Statistical Science. Heidelberg: Springer; 2025. p. 863-867.[citado 2026 jan. 29 ] Available from: https://doi.org/10.1007/978-3-662-69359-9_188
  • Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC

    Subjects: POLÍMEROS (MATERIAIS), SEMICONDUTORES, ÓPTICA, CÁLCULO DE PROBABILIDADE

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      VALENTE, Gustavo Targino e GUIMARÃES, Francisco Eduardo Gontijo. Probabilistic modeling of energy transfer in disordered organic semiconductors. Journal of Applied Physics, v. 136, n. 8, p. 084501-1-084501-8, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0218020. Acesso em: 29 jan. 2026.
    • APA

      Valente, G. T., & Guimarães, F. E. G. (2024). Probabilistic modeling of energy transfer in disordered organic semiconductors. Journal of Applied Physics, 136( 8), 084501-1-084501-8. doi:10.1063/5.0218020
    • NLM

      Valente GT, Guimarães FEG. Probabilistic modeling of energy transfer in disordered organic semiconductors [Internet]. Journal of Applied Physics. 2024 ; 136( 8): 084501-1-084501-8.[citado 2026 jan. 29 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0218020
    • Vancouver

      Valente GT, Guimarães FEG. Probabilistic modeling of energy transfer in disordered organic semiconductors [Internet]. Journal of Applied Physics. 2024 ; 136( 8): 084501-1-084501-8.[citado 2026 jan. 29 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0218020
  • Unidade: ICMC

    Subjects: PROBABILIDADE, MÉTODO DOS ELEMENTOS FINITOS, COMBINATÓRIA, CÁLCULO DE PROBABILIDADE

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    • ABNT

      OCTAVIANO, Daniel Polacchini. Espaços finitos de probabilidade. 2015. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2015. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55136/tde-20102016-094938/. Acesso em: 29 jan. 2026.
    • APA

      Octaviano, D. P. (2015). Espaços finitos de probabilidade (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55136/tde-20102016-094938/
    • NLM

      Octaviano DP. Espaços finitos de probabilidade [Internet]. 2015 ;[citado 2026 jan. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55136/tde-20102016-094938/
    • Vancouver

      Octaviano DP. Espaços finitos de probabilidade [Internet]. 2015 ;[citado 2026 jan. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55136/tde-20102016-094938/
  • Source: Produção Online. Unidade: EESC

    Subjects: RISCO, MERCADO FINANCEIRO, CÁLCULO DE PROBABILIDADE

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    • ABNT

      MORALLES, Herick Fernando e SARTORIS NETO, Alexandre e REBELATTO, Daisy Aparecida do Nascimento. Suposição de normalidade e gestão de risco: uma aplicação do Var paramétrico via teste de aderência. Produção Online, v. 14, n. abr./ju 2014, p. 430-447, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.14488/1676-1901.v14i2.1130. Acesso em: 29 jan. 2026.
    • APA

      Moralles, H. F., Sartoris Neto, A., & Rebelatto, D. A. do N. (2014). Suposição de normalidade e gestão de risco: uma aplicação do Var paramétrico via teste de aderência. Produção Online, 14( abr./ju 2014), 430-447. doi:10.14488/1676-1901.v14i2.1130
    • NLM

      Moralles HF, Sartoris Neto A, Rebelatto DA do N. Suposição de normalidade e gestão de risco: uma aplicação do Var paramétrico via teste de aderência [Internet]. Produção Online. 2014 ; 14( abr./ju 2014): 430-447.[citado 2026 jan. 29 ] Available from: https://doi.org/10.14488/1676-1901.v14i2.1130
    • Vancouver

      Moralles HF, Sartoris Neto A, Rebelatto DA do N. Suposição de normalidade e gestão de risco: uma aplicação do Var paramétrico via teste de aderência [Internet]. Produção Online. 2014 ; 14( abr./ju 2014): 430-447.[citado 2026 jan. 29 ] Available from: https://doi.org/10.14488/1676-1901.v14i2.1130
  • Unidade: ICMC

    Subjects: ESTATÍSTICA E PROBABILIDADE, CÁLCULO DE PROBABILIDADE, PROBABILIDADE

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    • ABNT

      SOUZA, Francys Andrews de. Teste para avaliar a propriedade de incrementos independentes em um processo pontual. 2013. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2013. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-29082013-143701/. Acesso em: 29 jan. 2026.
    • APA

      Souza, F. A. de. (2013). Teste para avaliar a propriedade de incrementos independentes em um processo pontual (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-29082013-143701/
    • NLM

      Souza FA de. Teste para avaliar a propriedade de incrementos independentes em um processo pontual [Internet]. 2013 ;[citado 2026 jan. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-29082013-143701/
    • Vancouver

      Souza FA de. Teste para avaliar a propriedade de incrementos independentes em um processo pontual [Internet]. 2013 ;[citado 2026 jan. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-29082013-143701/
  • Source: "Modelos de Regressão: aplicações interdisciplinares" - Programa e Resumos. Conference titles: Reunião Anual da Região Brasileira da Sociedade Internacional de Biometria. Unidade: ESALQ

    Subjects: FUNGOS FITOPATOGÊNICOS, ECOSSISTEMAS, CÁLCULO DE PROBABILIDADE

    How to cite
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    • ABNT

      FERREIRA, Iuri Emmanuel de Paula et al. Simulação da dispersão de fungos em superfícies planas via autômatos celulares. 2012, Anais.. Piracicaba: Escola Superior de Agricultura Luiz de Queiroz, Universidade de São Paulo, 2012. . Acesso em: 29 jan. 2026.
    • APA

      Ferreira, I. E. de P., Ferreira, C. P., Moral, R. de A., & Godoy, W. A. C. (2012). Simulação da dispersão de fungos em superfícies planas via autômatos celulares. In "Modelos de Regressão: aplicações interdisciplinares" - Programa e Resumos. Piracicaba: Escola Superior de Agricultura Luiz de Queiroz, Universidade de São Paulo.
    • NLM

      Ferreira IE de P, Ferreira CP, Moral R de A, Godoy WAC. Simulação da dispersão de fungos em superfícies planas via autômatos celulares. "Modelos de Regressão: aplicações interdisciplinares" - Programa e Resumos. 2012 ;[citado 2026 jan. 29 ]
    • Vancouver

      Ferreira IE de P, Ferreira CP, Moral R de A, Godoy WAC. Simulação da dispersão de fungos em superfícies planas via autômatos celulares. "Modelos de Regressão: aplicações interdisciplinares" - Programa e Resumos. 2012 ;[citado 2026 jan. 29 ]
  • Source: Geotecnia computacional: INFOGEO 2005. Conference titles: Simpósio Brasileiro de Aplicações de Informática em Geotecnia. Unidade: EP

    Subjects: ENSAIOS DE ROCHAS, ESTABILIDADE ESTRUTURAL (ANÁLISE), MODELOS MATEMÁTICOS, CÁLCULO DE PROBABILIDADE

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      RUSILO, Luiz Carlos et al. Possibilidades de emprego de envoltória de ruptura probabilística na análise de estabilidade. 2005, Anais.. Belo Horizonte: Editora FAPI, 2005. . Acesso em: 29 jan. 2026.
    • APA

      Rusilo, L. C., Yoshikawa, N. K., Sansone, E. C., & Reis, M. dos. (2005). Possibilidades de emprego de envoltória de ruptura probabilística na análise de estabilidade. In Geotecnia computacional: INFOGEO 2005. Belo Horizonte: Editora FAPI.
    • NLM

      Rusilo LC, Yoshikawa NK, Sansone EC, Reis M dos. Possibilidades de emprego de envoltória de ruptura probabilística na análise de estabilidade. Geotecnia computacional: INFOGEO 2005. 2005 ;[citado 2026 jan. 29 ]
    • Vancouver

      Rusilo LC, Yoshikawa NK, Sansone EC, Reis M dos. Possibilidades de emprego de envoltória de ruptura probabilística na análise de estabilidade. Geotecnia computacional: INFOGEO 2005. 2005 ;[citado 2026 jan. 29 ]
  • Unidade: FEA

    Subjects: CÁLCULO DE PROBABILIDADE, CRÉDITO

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SECURATO, José Roberto. Uma variação do modelo KMV de crédito para o cálculo da probabilidade de default de uma empresa. . São Paulo: EAD/FEA/USP. Disponível em: http://www.ead.fea.usp.br/wpapers/. Acesso em: 29 jan. 2026. , 2003
    • APA

      Securato, J. R. (2003). Uma variação do modelo KMV de crédito para o cálculo da probabilidade de default de uma empresa. São Paulo: EAD/FEA/USP. Recuperado de http://www.ead.fea.usp.br/wpapers/
    • NLM

      Securato JR. Uma variação do modelo KMV de crédito para o cálculo da probabilidade de default de uma empresa [Internet]. 2003 ;[citado 2026 jan. 29 ] Available from: http://www.ead.fea.usp.br/wpapers/
    • Vancouver

      Securato JR. Uma variação do modelo KMV de crédito para o cálculo da probabilidade de default de uma empresa [Internet]. 2003 ;[citado 2026 jan. 29 ] Available from: http://www.ead.fea.usp.br/wpapers/

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