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Artigo de periodico
Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals (2009)
Huanca, Danilo Roque ; Raimundo, Daniel Scodeler; Salcedo, Walter Jaimes
Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: EP
Assuntos: NANOTECNOLOGIA, MICROELETRÔNICA, ELETROQUÍMICA
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ABNT
HUANCA, Danilo Roque e RAIMUNDO, Daniel Scodeler e SALCEDO, Walter Jaimes. Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals. Microelectronics Journal, v. 40, n. 4-5, p. 744-748, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.005. Acesso em: 15 out. 2024.
APA
Huanca, D. R., Raimundo, D. S., & Salcedo, W. J. (2009). Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals. Microelectronics Journal, 40( 4-5), 744-748. doi:10.1016/j.mejo.2008.11.005
NLM
Huanca DR, Raimundo DS, Salcedo WJ. Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 744-748.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.005
Vancouver
Huanca DR, Raimundo DS, Salcedo WJ. Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 744-748.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.005
Artigo de periodico
Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis (2009)
Raimundo, Daniel Scodeler; Calíope, Priscila Braga; Huanca, Danilo Roque ; Salcedo, Walter Jaimes
Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: EP
Assuntos: NANOTECNOLOGIA, MICROELETRÔNICA
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ABNT
RAIMUNDO, Daniel Scodeler et al. Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis. Microelectronics Journal, v. 40, n. 4-5, p. 844-847, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.024. Acesso em: 15 out. 2024.
APA
Raimundo, D. S., Calíope, P. B., Huanca, D. R., & Salcedo, W. J. (2009). Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis. Microelectronics Journal, 40( 4-5), 844-847. doi:10.1016/j.mejo.2008.11.024
NLM
Raimundo DS, Calíope PB, Huanca DR, Salcedo WJ. Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 844-847.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.024
Vancouver
Raimundo DS, Calíope PB, Huanca DR, Salcedo WJ. Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 844-847.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.024
Artigo de periodico
Luminescence properties of the TRIMEB inclusion compound of a europium tris-ß-diketonate (2008)
Braga, S.S; COELHO, A.C.; GONCALVES, I.S.; SANTOS, G.; Fonseca, Fernando Josepetti ; Andrade, Adnei Melges de ; PERES,M.; SIMÕES, W.; MONTEIRO, T.; PEREIRA, L.
Fonte: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidades: EP, IEE
Assunto: MICROELETRÔNICA
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ABNT
BRAGA, S.S et al. Luminescence properties of the TRIMEB inclusion compound of a europium tris-ß-diketonate. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 354, n. 19-25, p. 2736-2739, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.09.053. Acesso em: 15 out. 2024.
APA
Braga, S. S., COELHO, A. C., GONCALVES, I. S., SANTOS, G., Fonseca, F. J., Andrade, A. M. de, et al. (2008). Luminescence properties of the TRIMEB inclusion compound of a europium tris-ß-diketonate. Journal of Non-Crystalline Solids, 354( 19-25), 2736-2739. doi:10.1016/j.jnoncrysol.2007.09.053
NLM
Braga SS, COELHO AC, GONCALVES IS, SANTOS G, Fonseca FJ, Andrade AM de, PERES M, SIMÕES W, MONTEIRO T, PEREIRA L. Luminescence properties of the TRIMEB inclusion compound of a europium tris-ß-diketonate [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2008 ;354( 19-25):2736-2739.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.09.053
Vancouver
Braga SS, COELHO AC, GONCALVES IS, SANTOS G, Fonseca FJ, Andrade AM de, PERES M, SIMÕES W, MONTEIRO T, PEREIRA L. Luminescence properties of the TRIMEB inclusion compound of a europium tris-ß-diketonate [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2008 ;354( 19-25):2736-2739.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.09.053
Artigo de periodico
Plasma etching of electrospun polymeric nanofibres (2006)
Verdonck, Patrick Bernard; Calíope, Priscila Braga; Del Moral Hernandez, Emilio ; Silva, Ana Neilde Rodrigues da
Fonte: Thin Solid Films. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
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ABNT
VERDONCK, Patrick Bernard et al. Plasma etching of electrospun polymeric nanofibres. Thin Solid Films, v. 515, n. 2, p. 831-834, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.12.196. Acesso em: 15 out. 2024.
APA
Verdonck, P. B., Calíope, P. B., Del Moral Hernandez, E., & Silva, A. N. R. da. (2006). Plasma etching of electrospun polymeric nanofibres. Thin Solid Films, 515( 2), 831-834. doi:10.1016/j.tsf.2005.12.196
NLM
Verdonck PB, Calíope PB, Del Moral Hernandez E, Silva ANR da. Plasma etching of electrospun polymeric nanofibres [Internet]. Thin Solid Films. 2006 ;515( 2): 831-834.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.12.196
Vancouver
Verdonck PB, Calíope PB, Del Moral Hernandez E, Silva ANR da. Plasma etching of electrospun polymeric nanofibres [Internet]. Thin Solid Films. 2006 ;515( 2): 831-834.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.12.196
Artigo de periodico
Silicon micromechanical structures fabricated by electrochemical process (2003)
Dantas, Michel Oliveira da Silva; Galeazzo, Elisabete ; Peres, Henrique Estanislau Maldonado ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Fonte: IEEE Sensors Journal,. Unidade: EP
Assuntos: NANOTECNOLOGIA, MICROELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
DANTAS, Michel Oliveira da Silva et al. Silicon micromechanical structures fabricated by electrochemical process. IEEE Sensors Journal, v. 3, n. 6, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/icsens.2002.1037163. Acesso em: 15 out. 2024.
APA
Dantas, M. O. da S., Galeazzo, E., Peres, H. E. M., & Ramírez Fernandez, F. J. (2003). Silicon micromechanical structures fabricated by electrochemical process. IEEE Sensors Journal,, 3( 6). doi:10.1109/icsens.2002.1037163
NLM
Dantas MO da S, Galeazzo E, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Silicon micromechanical structures fabricated by electrochemical process [Internet]. IEEE Sensors Journal,. 2003 ; 3( 6):[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1109/icsens.2002.1037163
Vancouver
Dantas MO da S, Galeazzo E, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Silicon micromechanical structures fabricated by electrochemical process [Internet]. IEEE Sensors Journal,. 2003 ; 3( 6):[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1109/icsens.2002.1037163
Artigo de periodico
Analytical modeling of the substrate effect on accumulation-mode SOI pMOSFETs at room temperature and at 77k (1997)
Pavanello, Marcelo Antonio ; Martino, João Antonio ; Colinge, Jean-Pierre
Fonte: Microelectronic Engineering. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PAVANELLO, Marcelo Antonio e MARTINO, João Antonio e COLINGE, Jean-Pierre. Analytical modeling of the substrate effect on accumulation-mode SOI pMOSFETs at room temperature and at 77k. Microelectronic Engineering, v. 36, n. 1-4, p. 375-378, 1997Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0167-9317(97)00083-x. Acesso em: 15 out. 2024.
APA
Pavanello, M. A., Martino, J. A., & Colinge, J. -P. (1997). Analytical modeling of the substrate effect on accumulation-mode SOI pMOSFETs at room temperature and at 77k. Microelectronic Engineering, 36( 1-4), 375-378. doi:10.1016/s0167-9317(97)00083-x
NLM
Pavanello MA, Martino JA, Colinge J-P. Analytical modeling of the substrate effect on accumulation-mode SOI pMOSFETs at room temperature and at 77k [Internet]. Microelectronic Engineering. 1997 ; 36( 1-4): 375-378.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0167-9317(97)00083-x
Vancouver
Pavanello MA, Martino JA, Colinge J-P. Analytical modeling of the substrate effect on accumulation-mode SOI pMOSFETs at room temperature and at 77k [Internet]. Microelectronic Engineering. 1997 ; 36( 1-4): 375-378.[citado 2024 out. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0167-9317(97)00083-x

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