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Trabalho de evento-resumo
Estudo de meios ativos para o desenvolvimento de micro-cavidades ópticas (2010)
Gallo, Ivan Braga; Zanatta, Antonio Ricardo
Fonte: Livro de Resumos. Nome do evento: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Assuntos: ÓPTICA (DESENVOLVIMENTO;FABRICAÇÃO;TÉCNICAS IN VITRO), FOTOLUMINESCÊNCIA (ESTUDO), FILMES FINOS
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ABNT
GALLO, Ivan Braga e ZANATTA, Antonio Ricardo. Estudo de meios ativos para o desenvolvimento de micro-cavidades ópticas. 2010, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC, 2010. . Acesso em: 12 jul. 2024.
APA
Gallo, I. B., & Zanatta, A. R. (2010). Estudo de meios ativos para o desenvolvimento de micro-cavidades ópticas. In Livro de Resumos. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC.
NLM
Gallo IB, Zanatta AR. Estudo de meios ativos para o desenvolvimento de micro-cavidades ópticas. Livro de Resumos. 2010 ;[citado 2024 jul. 12 ]
Vancouver
Gallo IB, Zanatta AR. Estudo de meios ativos para o desenvolvimento de micro-cavidades ópticas. Livro de Resumos. 2010 ;[citado 2024 jul. 12 ]
Trabalho de evento-resumo
Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão (2007)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Fonte: Livro de Resumos. Nome do evento: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Assuntos: FILMES FINOS, SILÍCIO, ESPECTROSCOPIA, ÓPTICA
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ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2007. . Acesso em: 12 jul. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Livro de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 jul. 12 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 jul. 12 ]
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Fonte: Caderno de Resumos. Nome do evento: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Assuntos: FILMES FINOS, SILÍCIO, CRISTALIZAÇÃO, TEMPERATURA
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FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. 2006, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2006. . Acesso em: 12 jul. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 jul. 12 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 jul. 12 ]
Trabalho de evento-resumo
Filmes de silício amorfo dopados com níquel (2005)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Fonte: Caderno de Resumos. Nome do evento: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Assuntos: FILMES FINOS, CRISTALIZAÇÃO, ESPECTROSCOPIA RAMAN, SILÍCIO, NÍQUEL
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ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. 2005, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2005. . Acesso em: 12 jul. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2005). Filmes de silício amorfo dopados com níquel. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. Caderno de Resumos. 2005 ;[citado 2024 jul. 12 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. Caderno de Resumos. 2005 ;[citado 2024 jul. 12 ]

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