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Trabalho de evento-resumo
Caracterizacao por tecnicas sem e edx de filmes finos sol-gel para a protecao quimica de aco inoxidavel (1993)
Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Lima Neto, P; Atik, M; Avaca, Luís Alberto; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da et al. Caracterizacao por tecnicas sem e edx de filmes finos sol-gel para a protecao quimica de aco inoxidavel. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Silva, M. de A. P. da, Lima Neto, P., Atik, M., Avaca, L. A., & Aegerter, M. A. (1993). Caracterizacao por tecnicas sem e edx de filmes finos sol-gel para a protecao quimica de aco inoxidavel. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Silva M de AP da, Lima Neto P, Atik M, Avaca LA, Aegerter MA. Caracterizacao por tecnicas sem e edx de filmes finos sol-gel para a protecao quimica de aco inoxidavel. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Silva M de AP da, Lima Neto P, Atik M, Avaca LA, Aegerter MA. Caracterizacao por tecnicas sem e edx de filmes finos sol-gel para a protecao quimica de aco inoxidavel. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Influencia das condicoes de sintese da zeolita zsm-5 no tamanho do cristal (1993)
Carvalho, C C; Aegerter, M A; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Cardoso, D
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
CARVALHO, C C et al. Influencia das condicoes de sintese da zeolita zsm-5 no tamanho do cristal. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Carvalho, C. C., Aegerter, M. A., Silva, M. de A. P. da, & Cardoso, D. (1993). Influencia das condicoes de sintese da zeolita zsm-5 no tamanho do cristal. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Carvalho CC, Aegerter MA, Silva M de AP da, Cardoso D. Influencia das condicoes de sintese da zeolita zsm-5 no tamanho do cristal. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Carvalho CC, Aegerter MA, Silva M de AP da, Cardoso D. Influencia das condicoes de sintese da zeolita zsm-5 no tamanho do cristal. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-anais periodico
Adaptive holographic interferometry for 2-d vibrational modes display (1993)
Frejlich, J.; Barbosa, E.; Prokofiev, V. V.; Gallo, Nelson Jose Heraldo; Andreeta, José Pedro
Source: Proceedings of SPIE. Conference titles: Interferometry VI: Techniques and Analysis. Unidades: IFSC, IFQSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
FREJLICH, J. et al. Adaptive holographic interferometry for 2-d vibrational modes display. Proceedings of SPIE. Bellingham: International Society for Optical Engineering - SPIE. Disponível em: https://doi.org/10.1117/12.165472. Acesso em: 02 nov. 2024. , 1993
APA
Frejlich, J., Barbosa, E., Prokofiev, V. V., Gallo, N. J. H., & Andreeta, J. P. (1993). Adaptive holographic interferometry for 2-d vibrational modes display. Proceedings of SPIE. Bellingham: International Society for Optical Engineering - SPIE. doi:10.1117/12.165472
NLM
Frejlich J, Barbosa E, Prokofiev VV, Gallo NJH, Andreeta JP. Adaptive holographic interferometry for 2-d vibrational modes display [Internet]. Proceedings of SPIE. 1993 ; 2003 179-184.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1117/12.165472
Vancouver
Frejlich J, Barbosa E, Prokofiev VV, Gallo NJH, Andreeta JP. Adaptive holographic interferometry for 2-d vibrational modes display [Internet]. Proceedings of SPIE. 1993 ; 2003 179-184.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1117/12.165472
Trabalho de evento-resumo
Caracterizacao de composicao quimica de contatos ohmicos e contatos schottky em transistores de alta mobilidade pela tecnica de eds (1993)
Rossi, J C; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Basmaji, Pierre; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
ROSSI, J C et al. Caracterizacao de composicao quimica de contatos ohmicos e contatos schottky em transistores de alta mobilidade pela tecnica de eds. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Rossi, J. C., Silva, M. de A. P. da, Basmaji, P., & Aegerter, M. A. (1993). Caracterizacao de composicao quimica de contatos ohmicos e contatos schottky em transistores de alta mobilidade pela tecnica de eds. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Rossi JC, Silva M de AP da, Basmaji P, Aegerter MA. Caracterizacao de composicao quimica de contatos ohmicos e contatos schottky em transistores de alta mobilidade pela tecnica de eds. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Rossi JC, Silva M de AP da, Basmaji P, Aegerter MA. Caracterizacao de composicao quimica de contatos ohmicos e contatos schottky em transistores de alta mobilidade pela tecnica de eds. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Alteração da superfície de aços nitretados por plasma (1993)
Alves Junior, C; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A; Antunes-Rodrigues, José
Conference titles: Colóquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica. Unidades: FMRP, IFQSC, IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
ALVES JUNIOR, C et al. Alteração da superfície de aços nitretados por plasma. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Alves Junior, C., Silva, M. de A. P. da, Aegerter, M. A., & Antunes-Rodrigues, J. (1993). Alteração da superfície de aços nitretados por plasma. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica.
NLM
Alves Junior C, Silva M de AP da, Aegerter MA, Antunes-Rodrigues J. Alteração da superfície de aços nitretados por plasma. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Alves Junior C, Silva M de AP da, Aegerter MA, Antunes-Rodrigues J. Alteração da superfície de aços nitretados por plasma. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Caracterizacao de pastilhas supercondutoras do sistema 'BI': 'PB' : 'SR' : 'CA' : 'CU' : o usando mev (1993)
Carvalho, C L; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A; Santos, D I
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
CARVALHO, C L et al. Caracterizacao de pastilhas supercondutoras do sistema 'BI': 'PB' : 'SR' : 'CA' : 'CU' : o usando mev. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Carvalho, C. L., Silva, M. de A. P. da, Aegerter, M. A., & Santos, D. I. (1993). Caracterizacao de pastilhas supercondutoras do sistema 'BI': 'PB' : 'SR' : 'CA' : 'CU' : o usando mev. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Carvalho CL, Silva M de AP da, Aegerter MA, Santos DI. Caracterizacao de pastilhas supercondutoras do sistema 'BI': 'PB' : 'SR' : 'CA' : 'CU' : o usando mev. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Carvalho CL, Silva M de AP da, Aegerter MA, Santos DI. Caracterizacao de pastilhas supercondutoras do sistema 'BI': 'PB' : 'SR' : 'CA' : 'CU' : o usando mev. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Correlacao entre espectro de absorcao otica e microestrutura de filmes de k'CL': 'CU POT.+' Depositadas em diversas temperaturas do substrato (1993)
Oliveira, L.; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Siu Li, Máximo ; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
OLIVEIRA, L. et al. Correlacao entre espectro de absorcao otica e microestrutura de filmes de k'CL': 'CU POT.+' Depositadas em diversas temperaturas do substrato. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Oliveira, L., Silva, M. de A. P. da, Siu Li, M., & Aegerter, M. A. (1993). Correlacao entre espectro de absorcao otica e microestrutura de filmes de k'CL': 'CU POT.+' Depositadas em diversas temperaturas do substrato. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Oliveira L, Silva M de AP da, Siu Li M, Aegerter MA. Correlacao entre espectro de absorcao otica e microestrutura de filmes de k'CL': 'CU POT.+' Depositadas em diversas temperaturas do substrato. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Oliveira L, Silva M de AP da, Siu Li M, Aegerter MA. Correlacao entre espectro de absorcao otica e microestrutura de filmes de k'CL': 'CU POT.+' Depositadas em diversas temperaturas do substrato. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Artigo de periodico
Electric field influence in dopant segregation in the 'LI''NB''O IND.3': 'CR POT.3+' crystal growth process (1993)
Octaviano, E S; Andreeta, José Pedro ; Gallo, Nelson José Heraldo
Source: Journal of Materials Science. Unidade: IFSC
Assunto: CRISTALOGRAFIA FÍSICA (ESTATÍSTICAS E DADOS NUMÉRICOS)
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ABNT
OCTAVIANO, E S e ANDREETA, José Pedro e GALLO, Nelson José Heraldo. Electric field influence in dopant segregation in the 'LI''NB''O IND.3': 'CR POT.3+' crystal growth process. Journal of Materials Science, v. 28, p. 65-8, 1993Tradução . . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Octaviano, E. S., Andreeta, J. P., & Gallo, N. J. H. (1993). Electric field influence in dopant segregation in the 'LI''NB''O IND.3': 'CR POT.3+' crystal growth process. Journal of Materials Science, 28, 65-8.
NLM
Octaviano ES, Andreeta JP, Gallo NJH. Electric field influence in dopant segregation in the 'LI''NB''O IND.3': 'CR POT.3+' crystal growth process. Journal of Materials Science. 1993 ;28 65-8.[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Octaviano ES, Andreeta JP, Gallo NJH. Electric field influence in dopant segregation in the 'LI''NB''O IND.3': 'CR POT.3+' crystal growth process. Journal of Materials Science. 1993 ;28 65-8.[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20' (1993)
Lima, C J; Carvalho, J F; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A; Andreeta, M R B; Hernandes, Antônio Carlos ; Andreeta, José Pedro
Source: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LIMA, C J et al. Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Lima, C. J., Carvalho, J. F., Silva, M. de A. P. da, Aegerter, M. A., Andreeta, M. R. B., Hernandes, A. C., & Andreeta, J. P. (1993). Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. In Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Lima CJ, Carvalho JF, Silva M de AP da, Aegerter MA, Andreeta MRB, Hernandes AC, Andreeta JP. Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Lima CJ, Carvalho JF, Silva M de AP da, Aegerter MA, Andreeta MRB, Hernandes AC, Andreeta JP. Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Estudo da morfologia de filmes de poli-o-metoxianilina (1993)
Gonçalves, Débora ; Bulhoes, L O S; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GONÇALVES, Débora et al. Estudo da morfologia de filmes de poli-o-metoxianilina. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Gonçalves, D., Bulhoes, L. O. S., Silva, M. de A. P. da, & Aegerter, M. A. (1993). Estudo da morfologia de filmes de poli-o-metoxianilina. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Gonçalves D, Bulhoes LOS, Silva M de AP da, Aegerter MA. Estudo da morfologia de filmes de poli-o-metoxianilina. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Gonçalves D, Bulhoes LOS, Silva M de AP da, Aegerter MA. Estudo da morfologia de filmes de poli-o-metoxianilina. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental (1993)
Goes, M F; Sinhoreti, M A C; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidade: IFSC
Assunto: ODONTOLOGIA SOCIAL
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GOES, M F et al. Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Goes, M. F., Sinhoreti, M. A. C., Silva, M. de A. P. da, & Aegerter, M. A. (1993). Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Goes MF, Sinhoreti MAC, Silva M de AP da, Aegerter MA. Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Goes MF, Sinhoreti MAC, Silva M de AP da, Aegerter MA. Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Crescimento preferencial de fios cristalinos de 'GA''AS' em substratos preparados por litografia de feixe de eletrons (1993)
Rossi, J C; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A; Basmaji, Pierre; Lubyshev, D
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ROSSI, J C et al. Crescimento preferencial de fios cristalinos de 'GA''AS' em substratos preparados por litografia de feixe de eletrons. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Rossi, J. C., Silva, M. de A. P. da, Aegerter, M. A., Basmaji, P., & Lubyshev, D. (1993). Crescimento preferencial de fios cristalinos de 'GA''AS' em substratos preparados por litografia de feixe de eletrons. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Rossi JC, Silva M de AP da, Aegerter MA, Basmaji P, Lubyshev D. Crescimento preferencial de fios cristalinos de 'GA''AS' em substratos preparados por litografia de feixe de eletrons. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Rossi JC, Silva M de AP da, Aegerter MA, Basmaji P, Lubyshev D. Crescimento preferencial de fios cristalinos de 'GA''AS' em substratos preparados por litografia de feixe de eletrons. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Sintese do ferrossilicato tipo zsm-5 (1993)
Montes-Barzon, A A; Cardoso, D; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MONTES-BARZON, A A et al. Sintese do ferrossilicato tipo zsm-5. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Montes-Barzon, A. A., Cardoso, D., Silva, M. de A. P. da, & Aegerter, M. A. (1993). Sintese do ferrossilicato tipo zsm-5. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Montes-Barzon AA, Cardoso D, Silva M de AP da, Aegerter MA. Sintese do ferrossilicato tipo zsm-5. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Montes-Barzon AA, Cardoso D, Silva M de AP da, Aegerter MA. Sintese do ferrossilicato tipo zsm-5. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Analise microscopica da solidificacao homogenea de ligas de 'SI'-'GE' (1993)
Alves, L M; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Octaviano, E S; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALVES, L M et al. Analise microscopica da solidificacao homogenea de ligas de 'SI'-'GE'. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Alves, L. M., Silva, M. de A. P. da, Octaviano, E. S., & Aegerter, M. A. (1993). Analise microscopica da solidificacao homogenea de ligas de 'SI'-'GE'. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Alves LM, Silva M de AP da, Octaviano ES, Aegerter MA. Analise microscopica da solidificacao homogenea de ligas de 'SI'-'GE'. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Alves LM, Silva M de AP da, Octaviano ES, Aegerter MA. Analise microscopica da solidificacao homogenea de ligas de 'SI'-'GE'. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Artigo de periodico
Photochemical hole burning in o'H POT.-' / 'NA POT.+' Doped k'CL' 'R IND.2'-band (1993)
Ventura, Liliane ; Oliveira, L.; Castro, J C; Gallo, Nelson Jose Heraldo; Siu Li, Máximo
Source: Revista de Física Aplicada e Instrumentação. Unidades: IFQSC, IFSC
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, DIELÉTRICOS, MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VENTURA, Liliane et al. Photochemical hole burning in o'H POT.-' / 'NA POT.+' Doped k'CL' 'R IND.2'-band. Revista de Física Aplicada e Instrumentação, v. 8, n. 4, p. 124-129, 1993Tradução . . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ventura, L., Oliveira, L., Castro, J. C., Gallo, N. J. H., & Siu Li, M. (1993). Photochemical hole burning in o'H POT.-' / 'NA POT.+' Doped k'CL' 'R IND.2'-band. Revista de Física Aplicada e Instrumentação, 8( 4), 124-129.
NLM
Ventura L, Oliveira L, Castro JC, Gallo NJH, Siu Li M. Photochemical hole burning in o'H POT.-' / 'NA POT.+' Doped k'CL' 'R IND.2'-band. Revista de Física Aplicada e Instrumentação. 1993 ; 8( 4): 124-129.[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Ventura L, Oliveira L, Castro JC, Gallo NJH, Siu Li M. Photochemical hole burning in o'H POT.-' / 'NA POT.+' Doped k'CL' 'R IND.2'-band. Revista de Física Aplicada e Instrumentação. 1993 ; 8( 4): 124-129.[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Medida de composicao quimica de monocristais fotorrefrativos por epma-eds (1993)
Lima, C J; Carvalho, J F; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A; Andreeta, M R B; Andreeta, José Pedro
Source: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LIMA, C J et al. Medida de composicao quimica de monocristais fotorrefrativos por epma-eds. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Lima, C. J., Carvalho, J. F., Silva, M. de A. P. da, Aegerter, M. A., Andreeta, M. R. B., & Andreeta, J. P. (1993). Medida de composicao quimica de monocristais fotorrefrativos por epma-eds. In Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Lima CJ, Carvalho JF, Silva M de AP da, Aegerter MA, Andreeta MRB, Andreeta JP. Medida de composicao quimica de monocristais fotorrefrativos por epma-eds. Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Lima CJ, Carvalho JF, Silva M de AP da, Aegerter MA, Andreeta MRB, Andreeta JP. Medida de composicao quimica de monocristais fotorrefrativos por epma-eds. Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. 1993 ;[citado 2024 nov. 02 ]

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