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Trabalho de evento-resumo
Luminescent-ordered mesoporous silica (2012)
Durães, Aline dos Santos Lira; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Brito, Hermi Felinto de ; Lourenço, Ana Valéria Santos de; Kodaira, Cláudia Akemi
Source: Anais. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IF, IQ
Subjects: LUMINESCÊNCIA, EURÓPIO
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ABNT
DURÃES, Aline dos Santos Lira et al. Luminescent-ordered mesoporous silica. 2012, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais (SBPMat), 2012. . Acesso em: 01 jul. 2024.
APA
Durães, A. dos S. L., Fantini, M. C. de A., Tabacniks, M. H., Brito, H. F. de, Lourenço, A. V. S. de, & Kodaira, C. A. (2012). Luminescent-ordered mesoporous silica. In Anais. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais (SBPMat).
NLM
Durães A dos SL, Fantini MC de A, Tabacniks MH, Brito HF de, Lourenço AVS de, Kodaira CA. Luminescent-ordered mesoporous silica. Anais. 2012 ;[citado 2024 jul. 01 ]
Vancouver
Durães A dos SL, Fantini MC de A, Tabacniks MH, Brito HF de, Lourenço AVS de, Kodaira CA. Luminescent-ordered mesoporous silica. Anais. 2012 ;[citado 2024 jul. 01 ]
Trabalho de evento-resumo
EXAFS analysis on SiOxNy films (2006)
Criado, Denise ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IF, EP
Assunto: MATERIAIS
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ABNT
CRIADO, Denise e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e PEREYRA, Inés. EXAFS analysis on SiOxNy films. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 01 jul. 2024.
APA
Criado, D., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). EXAFS analysis on SiOxNy films. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
NLM
Criado D, Fantini MC de A, Pereyra I. EXAFS analysis on SiOxNy films. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jul. 01 ]
Vancouver
Criado D, Fantini MC de A, Pereyra I. EXAFS analysis on SiOxNy films. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jul. 01 ]
Trabalho de evento-resumo
Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis (2006)
Albertin, Katia Franklin ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IF, EP
Assunto: MATERIAIS
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ABNT
ALBERTIN, Katia Franklin e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e PEREYRA, Inés. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 01 jul. 2024.
APA
Albertin, K. F., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
NLM
Albertin KF, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jul. 01 ]
Vancouver
Albertin KF, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jul. 01 ]

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