Filtros : "Universidade Federal da Bahia (UFBA)" "MATSUOKA, MASAO" Removidos: "Date, M" "BONAGAMBA, TITO JOSE" "Alemão" Limpar

Filtros



Refine with date range


  • Source: JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH. Unidade: IF

    Assunto: FOTOLUMINESCÊNCIA

    Versão PublicadaAcesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      KUMAR, M. et al. Bulk properties of InN films determined by experiments and theory. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, v. 403, p. 124-127, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2014.06.001. Acesso em: 19 ago. 2024.
    • APA

      Kumar, M., Baldissera, G., Persson, C., David, D. G. F., Silva, M. V. S. da, Ferreira da Silva, A., et al. (2014). Bulk properties of InN films determined by experiments and theory. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 403, 124-127. doi:10.1016/j.jcrysgro.2014.06.001
    • NLM

      Kumar M, Baldissera G, Persson C, David DGF, Silva MVS da, Ferreira da Silva A, Freitas JA, Tischler JG, Chubaci JFD, Matsuoka M. Bulk properties of InN films determined by experiments and theory [Internet]. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH. 2014 ; 403 124-127.[citado 2024 ago. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2014.06.001
    • Vancouver

      Kumar M, Baldissera G, Persson C, David DGF, Silva MVS da, Ferreira da Silva A, Freitas JA, Tischler JG, Chubaci JFD, Matsuoka M. Bulk properties of InN films determined by experiments and theory [Internet]. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH. 2014 ; 403 124-127.[citado 2024 ago. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2014.06.001
  • Source: SBF. Conference titles: Encontro de Físicos do Norte e Nordeste. Unidade: IF

    Subjects: MICROELETRÔNICA, FILMES FINOS

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      COSTA, Harliton Jonas et al. Formação de filmes finos de óxidos metálicos pela técnica IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition). 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxii/sys/resumos/R0430-1.pdf. Acesso em: 19 ago. 2024.
    • APA

      Costa, H. J., David, D. G. F., Silva, A. F. da, Freitas Jr., J. A., Chubaci, J. F. D., & Matsuoka, M. (2014). Formação de filmes finos de óxidos metálicos pela técnica IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition). In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxii/sys/resumos/R0430-1.pdf
    • NLM

      Costa HJ, David DGF, Silva AF da, Freitas Jr. JA, Chubaci JFD, Matsuoka M. Formação de filmes finos de óxidos metálicos pela técnica IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition) [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 ago. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxii/sys/resumos/R0430-1.pdf
    • Vancouver

      Costa HJ, David DGF, Silva AF da, Freitas Jr. JA, Chubaci JFD, Matsuoka M. Formação de filmes finos de óxidos metálicos pela técnica IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition) [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 ago. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxii/sys/resumos/R0430-1.pdf
  • Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF

    Assunto: MATÉRIA CONDENSADA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      COSTA, Harliton Jonas et al. Thin film oxides produced by IBAD (ion beam assisted deposition). 2013, Anais.. Águas de Lindóia: SBF, 2013. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvi/sys/resumos/R0529-1.pdf. Acesso em: 19 ago. 2024.
    • APA

      Costa, H. J., Silva, A. F. da, Silva, M. V. S. da, David, D. G. F., Freitas Jr, J. A., Matsuoka, M., & Chubaci, J. F. D. (2013). Thin film oxides produced by IBAD (ion beam assisted deposition). In Resumos. Águas de Lindóia: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvi/sys/resumos/R0529-1.pdf
    • NLM

      Costa HJ, Silva AF da, Silva MVS da, David DGF, Freitas Jr JA, Matsuoka M, Chubaci JFD. Thin film oxides produced by IBAD (ion beam assisted deposition) [Internet]. Resumos. 2013 ;[citado 2024 ago. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvi/sys/resumos/R0529-1.pdf
    • Vancouver

      Costa HJ, Silva AF da, Silva MVS da, David DGF, Freitas Jr JA, Matsuoka M, Chubaci JFD. Thin film oxides produced by IBAD (ion beam assisted deposition) [Internet]. Resumos. 2013 ;[citado 2024 ago. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvi/sys/resumos/R0529-1.pdf
  • Source: Resumo. Conference titles: Encontro de Físicos do Norte e Nordeste. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA (CONGRESSOS), FILMES FINOS (CONGRESSOS)

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      COSTA, Harliton Jonas da et al. Filmes finos de oxidos(HfO2, CeO2, TiO2) para dispositivos eletrônicos fabricados por IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition). 2013, Anais.. São Paulo: SBF, 2013. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxi/sys/resumos/R0548-1.pdf. Acesso em: 19 ago. 2024.
    • APA

      Costa, H. J. da, David, D. G. F., Silva, A. F. da, Chubaci, J. F. D., Matsuoka, M., & Freitas Junior, J. A. (2013). Filmes finos de oxidos(HfO2, CeO2, TiO2) para dispositivos eletrônicos fabricados por IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition). In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxi/sys/resumos/R0548-1.pdf
    • NLM

      Costa HJ da, David DGF, Silva AF da, Chubaci JFD, Matsuoka M, Freitas Junior JA. Filmes finos de oxidos(HfO2, CeO2, TiO2) para dispositivos eletrônicos fabricados por IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition) [Internet]. Resumo. 2013 ;[citado 2024 ago. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxi/sys/resumos/R0548-1.pdf
    • Vancouver

      Costa HJ da, David DGF, Silva AF da, Chubaci JFD, Matsuoka M, Freitas Junior JA. Filmes finos de oxidos(HfO2, CeO2, TiO2) para dispositivos eletrônicos fabricados por IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition) [Internet]. Resumo. 2013 ;[citado 2024 ago. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/efnne/xxxi/sys/resumos/R0548-1.pdf

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2024