Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS (2004)
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
ABNT
MALUF, Silvia S. et al. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf. Acesso em: 05 nov. 2024.APA
Maluf, S. S., Nascente, P. A. P., Paulin Filho, P. I., Fantini, M. C. de A., & Gobbi, A. L. (2004). Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdfNLM
Maluf SS, Nascente PAP, Paulin Filho PI, Fantini MC de A, Gobbi AL. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdfVancouver
Maluf SS, Nascente PAP, Paulin Filho PI, Fantini MC de A, Gobbi AL. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf