Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS (2004)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; FILMES FINOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Volume/Número/Paginação/Ano: São Paulo : SBF, 2004
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
MALUF, Silvia S. et al. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf. Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Maluf, S. S., Nascente, P. A. P., Paulin Filho, P. I., Fantini, M. C. de A., & Gobbi, A. L. (2004). Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf -
NLM
Maluf SS, Nascente PAP, Paulin Filho PI, Fantini MC de A, Gobbi AL. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf -
Vancouver
Maluf SS, Nascente PAP, Paulin Filho PI, Fantini MC de A, Gobbi AL. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
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