Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS (2004)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; FILMES FINOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Resumos
- Volume/Número/Paginação/Ano: São Paulo : SBF, 2004
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
MALUF, Silvia S. et al. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf. Acesso em: 02 jan. 2026. -
APA
Maluf, S. S., Nascente, P. A. P., Paulin Filho, P. I., Fantini, M. C. de A., & Gobbi, A. L. (2004). Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf -
NLM
Maluf SS, Nascente PAP, Paulin Filho PI, Fantini MC de A, Gobbi AL. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2026 jan. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf -
Vancouver
Maluf SS, Nascente PAP, Paulin Filho PI, Fantini MC de A, Gobbi AL. Caractrização de filmes finos de cobre, paládio e ouro por AFM, XRD e XPS [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2026 jan. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0097-3.pdf - Filmes finos de 'NI'' (OH) IND.X' depositados por precipitacao quimica: a dependencia das propriedades eletrocromicas com a temperatura
- Caracterizacao de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h por difracao de raios-x
- Electroreflectance and photoresponse of 'NIO IND.X' thin films
- Influencia do fluxo de oxigenio nas propriedades eletrocromicas de filmes finos de oxido de niquel
- Determinacao das propriedades estruturais de super-redes monocristalinas de 'GE' / 'SI IND.0,3''GE IND.0,7'
- Radio frequency sputtered electrochromic cobalt oxide coating: structural, optical and electrochemical characterization
- Structure of amorphous silicon alloys and electrochromics transition metal oxides
- Formas de utilização dos raios x na investigação das propriedades estruturais de novos materiais
- Structure, morphology and composition of thin Pd and Ni films deposited by dc magnetron sputtering on polycrystalline Ni and Pd foils
- Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ"
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
