Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ" (2004)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; FILMES FINOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Matéria Condensada
-
ABNT
SÁNCHEZ, M. A. E e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ". 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdf. Acesso em: 03 out. 2024. -
APA
Sánchez, M. A. E., & Fantini, M. C. de A. (2004). Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ". In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdf -
NLM
Sánchez MAE, Fantini MC de A. Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ" [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 out. 03 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdf -
Vancouver
Sánchez MAE, Fantini MC de A. Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ" [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 out. 03 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdf - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
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