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1 - 8 (8 records)

  • Artigo de periodico

    Topology studies of hydrodynamics using two-particle correlation analysis (2009)

    Takahashi, Jiro; Tavares, B M; Qian, Wei-Liang; Andrade, R; Grassi, Frederique Marie Brigitte Sylvie; Hama, Yogiro; Kodama, Takeshi; Xu, N

    Source: Physical Review Letters. Unidade: IF

    Subjects: HIDRODINÂMICA, ÍONS PESADOS

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    • ABNT

      TAKAHASHI, Jiro et al. Topology studies of hydrodynamics using two-particle correlation analysis. Physical Review Letters, v. 103, n. 25, 2009Tradução . . Disponível em: http://prl.aps.org/pdf/PRL/v103/i24/e242301. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Takahashi, J., Tavares, B. M., Qian, W. -L., Andrade, R., Grassi, F. M. B. S., Hama, Y., et al. (2009). Topology studies of hydrodynamics using two-particle correlation analysis. Physical Review Letters, 103( 25). Recuperado de http://prl.aps.org/pdf/PRL/v103/i24/e242301

    • NLM

      Takahashi J, Tavares BM, Qian W-L, Andrade R, Grassi FMBS, Hama Y, Kodama T, Xu N. Topology studies of hydrodynamics using two-particle correlation analysis [Internet]. Physical Review Letters. 2009 ; 103( 25):[citado 2024 maio 30 ] Available from: http://prl.aps.org/pdf/PRL/v103/i24/e242301

    • Vancouver

      Takahashi J, Tavares BM, Qian W-L, Andrade R, Grassi FMBS, Hama Y, Kodama T, Xu N. Topology studies of hydrodynamics using two-particle correlation analysis [Internet]. Physical Review Letters. 2009 ; 103( 25):[citado 2024 maio 30 ] Available from: http://prl.aps.org/pdf/PRL/v103/i24/e242301

  • Artigo de periodico

    Gold-implanted shallow conducting layers in polymethylmethacrylate (2009)

    Teixeira, Fernanda de Sá; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Brown, I G

    Source: Journal of Applied Physics,. Unidade: IF

    Subjects: FILMES FINOS, MÉTODO DE MONTE CARLO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      TEIXEIRA, Fernanda de Sá et al. Gold-implanted shallow conducting layers in polymethylmethacrylate. Journal of Applied Physics, v. 105, n. 6, p. 064313-1/-064313-5, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.3088874. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Teixeira, F. de S., Salvadori, M. C. B. da S., Cattani, M. S. D., & Brown, I. G. (2009). Gold-implanted shallow conducting layers in polymethylmethacrylate. Journal of Applied Physics,, 105( 6), 064313-1/-064313-5. doi:10.1063/1.3088874

    • NLM

      Teixeira F de S, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Gold-implanted shallow conducting layers in polymethylmethacrylate [Internet]. Journal of Applied Physics,. 2009 ; 105( 6): 064313-1/-064313-5.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.3088874

    • Vancouver

      Teixeira F de S, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Gold-implanted shallow conducting layers in polymethylmethacrylate [Internet]. Journal of Applied Physics,. 2009 ; 105( 6): 064313-1/-064313-5.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.3088874

  • Artigo de periodico

    Novel method for measuring nanofriction by atomic force microscope (2008)

    Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Lisboa, F S; Fernandes, Fernando Massa; Brown, I G

    Source: Journal of Vacuum Science and Technology B. Unidade: IF

    Subjects: SUPERFÍCIE FÍSICA, FILMES FINOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Novel method for measuring nanofriction by atomic force microscope. Journal of Vacuum Science and Technology B, v. 26, n. 2, p. 643-650, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1116/1.2890694. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Salvadori, M. C. B. da S., Lisboa, F. S., Fernandes, F. M., & Brown, I. G. (2008). Novel method for measuring nanofriction by atomic force microscope. Journal of Vacuum Science and Technology B, 26( 2), 643-650. doi:10.1116/1.2890694

    • NLM

      Salvadori MCB da S, Lisboa FS, Fernandes FM, Brown IG. Novel method for measuring nanofriction by atomic force microscope [Internet]. Journal of Vacuum Science and Technology B. 2008 ; 26( 2): 643-650.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1116/1.2890694

    • Vancouver

      Salvadori MCB da S, Lisboa FS, Fernandes FM, Brown IG. Novel method for measuring nanofriction by atomic force microscope [Internet]. Journal of Vacuum Science and Technology B. 2008 ; 26( 2): 643-650.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1116/1.2890694

  • Artigo de periodico

    Electrical resistivity of very thin metallic films with isotropic and anisotropic surfaces (2007)

    Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Teixeira, Fernanda Sá; Wiederkehr, R S; Brown, I G

    Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF

    Subjects: SUPERFÍCIE FÍSICA, FILMES FINOS

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa et al. Electrical resistivity of very thin metallic films with isotropic and anisotropic surfaces. Surface Review and Letters, v. 14, n. 3, p. 345-356, 2007Tradução . . Disponível em: http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080130013118099303[CAPES152@143.107.135.25]@page.pdf. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Cattani, M. S. D., Salvadori, M. C. B. da S., Teixeira, F. S., Wiederkehr, R. S., & Brown, I. G. (2007). Electrical resistivity of very thin metallic films with isotropic and anisotropic surfaces. Surface Review and Letters, 14( 3), 345-356. Recuperado de http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080130013118099303[CAPES152@143.107.135.25]@page.pdf

    • NLM

      Cattani MSD, Salvadori MCB da S, Teixeira FS, Wiederkehr RS, Brown IG. Electrical resistivity of very thin metallic films with isotropic and anisotropic surfaces [Internet]. Surface Review and Letters. 2007 ; 14( 3): 345-356.[citado 2024 maio 30 ] Available from: http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080130013118099303[CAPES152@143.107.135.25]@page.pdf

    • Vancouver

      Cattani MSD, Salvadori MCB da S, Teixeira FS, Wiederkehr RS, Brown IG. Electrical resistivity of very thin metallic films with isotropic and anisotropic surfaces [Internet]. Surface Review and Letters. 2007 ; 14( 3): 345-356.[citado 2024 maio 30 ] Available from: http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080130013118099303[CAPES152@143.107.135.25]@page.pdf

  • Artigo de periodico

    Small plasma source for materials application (2007)

    Vizir, A; Oks, E M; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Teixeira, Fernanda de Sá; Brown, I G

    Source: Review of Scientific Instruments. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA DE PLASMAS, ÍONS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      VIZIR, A et al. Small plasma source for materials application. Review of Scientific Instruments, v. 78, n. 8, p. 086103/1-086103/2, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2766837. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Vizir, A., Oks, E. M., Salvadori, M. C. B. da S., Teixeira, F. de S., & Brown, I. G. (2007). Small plasma source for materials application. Review of Scientific Instruments, 78( 8), 086103/1-086103/2. doi:10.1063/1.2766837

    • NLM

      Vizir A, Oks EM, Salvadori MCB da S, Teixeira F de S, Brown IG. Small plasma source for materials application [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2007 ; 78( 8): 086103/1-086103/2.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2766837

    • Vancouver

      Vizir A, Oks EM, Salvadori MCB da S, Teixeira F de S, Brown IG. Small plasma source for materials application [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2007 ; 78( 8): 086103/1-086103/2.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2766837

  • Artigo de periodico

    Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples (2006)

    Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Vaz, A; Teixeira, F S; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Brown, I G

    Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples. Applied Physics Letters, v. 88, n. 13, p. 133106/1-133106/3, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2189192. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Salvadori, M. C. B. da S., Vaz, A., Teixeira, F. S., Cattani, M. S. D., & Brown, I. G. (2006). Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples. Applied Physics Letters, 88( 13), 133106/1-133106/3. doi:10.1063/1.2189192

    • NLM

      Salvadori MCB da S, Vaz A, Teixeira FS, Cattani MSD, Brown IG. Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 13): 133106/1-133106/3.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2189192

    • Vancouver

      Salvadori MCB da S, Vaz A, Teixeira FS, Cattani MSD, Brown IG. Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 13): 133106/1-133106/3.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2189192

  • Artigo de periodico

    Diamond microstructures fabricated using silicon molds (2005)

    Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Martins, D R; Mansano, Ronaldo Domingues ; Verdonck, Patrick Bernard; Brown, I G

    Source: Journal of Vacuum Science & Technology. Unidades: IF, EP

    Subjects: MATERIAIS, DIAMANTE, MICROSCOPIA ELETRÔNICA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Diamond microstructures fabricated using silicon molds. Journal of Vacuum Science & Technology, v. 23, n. 6, p. 1575-1578, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1116/1.2091095. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Salvadori, M. C. B. da S., Martins, D. R., Mansano, R. D., Verdonck, P. B., & Brown, I. G. (2005). Diamond microstructures fabricated using silicon molds. Journal of Vacuum Science & Technology, 23( 6), 1575-1578. doi:10.1116/1.2091095

    • NLM

      Salvadori MCB da S, Martins DR, Mansano RD, Verdonck PB, Brown IG. Diamond microstructures fabricated using silicon molds [Internet]. Journal of Vacuum Science & Technology. 2005 ; 23( 6): 1575-1578.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1116/1.2091095

    • Vancouver

      Salvadori MCB da S, Martins DR, Mansano RD, Verdonck PB, Brown IG. Diamond microstructures fabricated using silicon molds [Internet]. Journal of Vacuum Science & Technology. 2005 ; 23( 6): 1575-1578.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1116/1.2091095

  • Artigo de periodico

    Contamination due to memory effects in filtered vacuum arc plasma deposition systems (2002)

    Martins, Deilton Reis; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Verdonck, Patrick Bernard; Brown, I G

    Source: Applied Physics Letters. Unidades: IF, EP

    Subjects: VÁCUO, FÍSICA DE PLASMAS, FILMES FINOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MARTINS, Deilton Reis et al. Contamination due to memory effects in filtered vacuum arc plasma deposition systems. Applied Physics Letters, v. 81, n. 11, p. 1969-1971, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1506019. Acesso em: 30 maio 2024.

    • APA

      Martins, D. R., Salvadori, M. C. B. da S., Verdonck, P. B., & Brown, I. G. (2002). Contamination due to memory effects in filtered vacuum arc plasma deposition systems. Applied Physics Letters, 81( 11), 1969-1971. doi:10.1063/1.1506019

    • NLM

      Martins DR, Salvadori MCB da S, Verdonck PB, Brown IG. Contamination due to memory effects in filtered vacuum arc plasma deposition systems [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 81( 11): 1969-1971.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1506019

    • Vancouver

      Martins DR, Salvadori MCB da S, Verdonck PB, Brown IG. Contamination due to memory effects in filtered vacuum arc plasma deposition systems [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 81( 11): 1969-1971.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1506019
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