Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples (2006)
- Authors:
- USP affiliated authors: SALVADORI, MARIA C. B. S. - IF ; CATTANI, MAURO SERGIO DORSA - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1063/1.2189192
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; FILMES FINOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Applied Physics Letters
- ISSN: 0003-6951
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 88, n. 13, p. 133106/1-133106/3, 2006
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: green
- Licença: other-oa
-
ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples. Applied Physics Letters, v. 88, n. 13, p. 133106/1-133106/3, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2189192. Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Vaz, A., Teixeira, F. S., Cattani, M. S. D., & Brown, I. G. (2006). Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples. Applied Physics Letters, 88( 13), 133106/1-133106/3. doi:10.1063/1.2189192 -
NLM
Salvadori MCB da S, Vaz A, Teixeira FS, Cattani MSD, Brown IG. Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 13): 133106/1-133106/3.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2189192 -
Vancouver
Salvadori MCB da S, Vaz A, Teixeira FS, Cattani MSD, Brown IG. Thermoelectric effect in very thin film Pt/Au thermocouples [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 13): 133106/1-133106/3.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2189192 - Critical exponent measurement of poor quality diamond films
- Dynamic scaling phenomena in diamond film growth
- Critical exponents of diamond films: possible influence of spatially correlated noise
- Metal ion mixing in diamond
- Estudo e fabricação de microbocais sônicos de diamante
- Nanostructured metallic thin films: measurement of critical exponents
- Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films
- Nanostructured gold thin films: young modulus measurement
- Young modulus measurement of nanostructured metallic thin films
- Contribution of the morphological grain sizes to the electrical resistivity of platinum and gold thin films
Informações sobre o DOI: 10.1063/1.2189192 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
