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Dissertação (Mestrado)
Aplicação de filmes de siliceto de titanio e do escoamento térmico rapido de camadas de PSG na fabricação de circuitos integrados nMOS (1988)
Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Swart, Jacobus Willibrordus (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: SILÍCIO, FILMES FINOS
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ABNT
SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Aplicação de filmes de siliceto de titanio e do escoamento térmico rapido de camadas de PSG na fabricação de circuitos integrados nMOS. 1988. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1988. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Santos Filho, S. G. dos. (1988). Aplicação de filmes de siliceto de titanio e do escoamento térmico rapido de camadas de PSG na fabricação de circuitos integrados nMOS (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
NLM
Santos Filho SG dos. Aplicação de filmes de siliceto de titanio e do escoamento térmico rapido de camadas de PSG na fabricação de circuitos integrados nMOS. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Santos Filho SG dos. Aplicação de filmes de siliceto de titanio e do escoamento térmico rapido de camadas de PSG na fabricação de circuitos integrados nMOS. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento-resumo
Filmes de 'GA''AS' crescidos por efm ( epitaxia por feixe molecular) (1988)
Ceschin, A M; Basso, Heitor Cury
Source: Programa e Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
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ABNT
CESCHIN, A M e BASSO, Heitor Cury. Filmes de 'GA''AS' crescidos por efm ( epitaxia por feixe molecular). 1988, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1988. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Ceschin, A. M., & Basso, H. C. (1988). Filmes de 'GA''AS' crescidos por efm ( epitaxia por feixe molecular). In Programa e Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Ceschin AM, Basso HC. Filmes de 'GA''AS' crescidos por efm ( epitaxia por feixe molecular). Programa e Resumos. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Ceschin AM, Basso HC. Filmes de 'GA''AS' crescidos por efm ( epitaxia por feixe molecular). Programa e Resumos. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Relatorio tecnico
Estudo de filmes de oxido de tantalo (1988)
Valle, M A
Unidade: EP
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
VALLE, M A. Estudo de filmes de oxido de tantalo. . São Paulo: Lme-Usp. . Acesso em: 01 nov. 2024. , 1988
APA
Valle, M. A. (1988). Estudo de filmes de oxido de tantalo. São Paulo: Lme-Usp.
NLM
Valle MA. Estudo de filmes de oxido de tantalo. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Valle MA. Estudo de filmes de oxido de tantalo. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento-resumo
Deposicao de filmes finos sobre metais pelo metodo sol-gel (1988)
Kinouchi, Osame; Aegerter, M A
Source: Programa e Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
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ABNT
KINOUCHI, Osame e AEGERTER, M A. Deposicao de filmes finos sobre metais pelo metodo sol-gel. 1988, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1988. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Kinouchi, O., & Aegerter, M. A. (1988). Deposicao de filmes finos sobre metais pelo metodo sol-gel. In Programa e Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Kinouchi O, Aegerter MA. Deposicao de filmes finos sobre metais pelo metodo sol-gel. Programa e Resumos. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Kinouchi O, Aegerter MA. Deposicao de filmes finos sobre metais pelo metodo sol-gel. Programa e Resumos. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Dissertação (Mestrado)
Magnetometria com filmes finos de permalloy (1988)
Valls Martin, Ramon; Oliveira Jr., N. F. (Orientador)
Unidade: IF
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
VALLS MARTIN, Ramon. Magnetometria com filmes finos de permalloy. 1988. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1988. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Valls Martin, R. (1988). Magnetometria com filmes finos de permalloy (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
NLM
Valls Martin R. Magnetometria com filmes finos de permalloy. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Valls Martin R. Magnetometria com filmes finos de permalloy. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Tese (Doutorado)
Propriedades opticas e eletrônicas do semicondutor amorfo sulfeto de antimomio (1988)
Droichi-Puech, Meire; Pontuschka, W. M. (Orientador)
Unidade: IF
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
DROICHI-PUECH, Meire. Propriedades opticas e eletrônicas do semicondutor amorfo sulfeto de antimomio. 1988. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1988. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Droichi-Puech, M. (1988). Propriedades opticas e eletrônicas do semicondutor amorfo sulfeto de antimomio (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
NLM
Droichi-Puech M. Propriedades opticas e eletrônicas do semicondutor amorfo sulfeto de antimomio. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Droichi-Puech M. Propriedades opticas e eletrônicas do semicondutor amorfo sulfeto de antimomio. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Artigo de periodico
Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x (1988)
Swart, Jacobus Willibrordus; Riella, Humberto Gracher ; Morimoto, Nilton Itiro
Source: Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade. Unidade: EP
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SWART, Jacobus Willibrordus e RIELLA, Humberto Gracher e MORIMOTO, Nilton Itiro. Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade, v. 1 , p. 127-39, 1988Tradução . . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Swart, J. W., Riella, H. G., & Morimoto, N. I. (1988). Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade, 1 , 127-39.
NLM
Swart JW, Riella HG, Morimoto NI. Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade. 1988 ;1 127-39.[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Swart JW, Riella HG, Morimoto NI. Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade. 1988 ;1 127-39.[citado 2024 nov. 01 ]
Relatorio tecnico
Resistor em filme fino (1988)
Saito, M; Cordaro, M H; Valle, M A
Unidade: EP
Assunto: FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SAITO, M e CORDARO, M H e VALLE, M A. Resistor em filme fino. . Sao Paulo: Lme-Usp. . Acesso em: 01 nov. 2024. , 1988
APA
Saito, M., Cordaro, M. H., & Valle, M. A. (1988). Resistor em filme fino. Sao Paulo: Lme-Usp.
NLM
Saito M, Cordaro MH, Valle MA. Resistor em filme fino. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Saito M, Cordaro MH, Valle MA. Resistor em filme fino. 1988 ;[citado 2024 nov. 01 ]

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