Temperature Modulated Nanomechanical Thermal Analysis (2018)
- Authors:
- Autor USP: MANSANO, RONALDO DOMINGUES - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1109/JSEN.2018.2819898
- Subjects: AQUECIMENTO; TEMPERATURA; ANÁLISE TÉRMICA
- Language: Inglês
- Source:
- Título: IEEE Sensors Journal
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 18, n. 10, p. 4001-4007, May 2018
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: green
- Licença: other-oa
-
ABNT
ALVES, Gustavo Marcati Alexandrino et al. Temperature Modulated Nanomechanical Thermal Analysis. IEEE Sensors Journal, v. 18, n. 10, p. 4001-4007, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/JSEN.2018.2819898. Acesso em: 28 dez. 2025. -
APA
Alves, G. M. A., Goswani, S. B., Mansano, R. D., & Boisen, A. (2018). Temperature Modulated Nanomechanical Thermal Analysis. IEEE Sensors Journal, 18( 10), 4001-4007. doi:10.1109/JSEN.2018.2819898 -
NLM
Alves GMA, Goswani SB, Mansano RD, Boisen A. Temperature Modulated Nanomechanical Thermal Analysis [Internet]. IEEE Sensors Journal. 2018 ; 18( 10): 4001-4007.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1109/JSEN.2018.2819898 -
Vancouver
Alves GMA, Goswani SB, Mansano RD, Boisen A. Temperature Modulated Nanomechanical Thermal Analysis [Internet]. IEEE Sensors Journal. 2018 ; 18( 10): 4001-4007.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1109/JSEN.2018.2819898 - Deposition and characterization of indium-tin oxide thin films deposited by RF sputtering
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Informações sobre o DOI: 10.1109/JSEN.2018.2819898 (Fonte: oaDOI API)
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