Phase transformation and residual stress probed by Raman spectroscopy in diamond-turned single crystal silicon (2008)
- Authors:
- USP affiliated authors: JASINEVICIUS, RENATO GOULART - EESC ; DUDUCH, JAIME GILBERTO - EESC ; MONTANARI, LUCIANA - EESC
- Unidade: EESC
- DOI: 10.1243/09544054JEM1161
- Subjects: MUDANÇA DE FASE; ESPECTROSCOPIA RAMAN
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Proceedings of Institution of Mechanical Engineers. Part B. Journal of Engineering Manufacture
- ISSN: 0954-4054
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 222, n. 9, p. 1065-1073, 2008
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
JASINEVICIUS, Renato Goulart et al. Phase transformation and residual stress probed by Raman spectroscopy in diamond-turned single crystal silicon. Proceedings of Institution of Mechanical Engineers. Part B. Journal of Engineering Manufacture, v. 222, n. 9, p. 1065-1073, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1243/09544054JEM1161. Acesso em: 15 fev. 2026. -
APA
Jasinevicius, R. G., Duduch, J. G., Montanari, L., & Pizani, P. S. (2008). Phase transformation and residual stress probed by Raman spectroscopy in diamond-turned single crystal silicon. Proceedings of Institution of Mechanical Engineers. Part B. Journal of Engineering Manufacture, 222( 9), 1065-1073. doi:10.1243/09544054JEM1161 -
NLM
Jasinevicius RG, Duduch JG, Montanari L, Pizani PS. Phase transformation and residual stress probed by Raman spectroscopy in diamond-turned single crystal silicon [Internet]. Proceedings of Institution of Mechanical Engineers. Part B. Journal of Engineering Manufacture. 2008 ; 222( 9): 1065-1073.[citado 2026 fev. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1243/09544054JEM1161 -
Vancouver
Jasinevicius RG, Duduch JG, Montanari L, Pizani PS. Phase transformation and residual stress probed by Raman spectroscopy in diamond-turned single crystal silicon [Internet]. Proceedings of Institution of Mechanical Engineers. Part B. Journal of Engineering Manufacture. 2008 ; 222( 9): 1065-1073.[citado 2026 fev. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1243/09544054JEM1161 - Dependence of brittle-to-ductile transition on crystallographic direction in diamond turning of single-crystal silicon
- Microestruturas replicadas em PMMA aquecido, obtidas em processo de laminação
- Análise da simulação em ANSYS® do projeto de um porta ferramenta assistido para usinagens de ultra-precisão com ferramenta de diamante
- Single point diamond turning of tungsten carbide
- Projeto de controlador para posicionar ferramentas de corte
- Efeito da fase martensítica nas propriedades mecânicas de aços ferríticos com grãos ultrafinos
- Ductile machining and high pressure phase transformations of semiconductor crystals
- Análise dos modos de remoção de um cristal semicondutor e de uma liga metálica não ferrosa no torneamento de ultraprecisão através da emissão acústica
- In-situ Raman spectroscopy analysis of re-crystallization annealing of diamond turned silicon crystal
- Evidence of crystallographic orientation dependence upon cyclic microindentation-induced recrystallization within amorphous surface layer
Informações sobre o DOI: 10.1243/09544054JEM1161 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
