Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering (1999)
- Authors:
- Autor USP: OPPENHEIM, IVETTE FRIDA CYMBAUM - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen; OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum; CHINAGLIA, Eliane F. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Anais.. São Paulo: SBF, 1999. -
APA
Schoenmaker, J., Oppenheim, I. F. C., & Chinaglia, E. F. (1999). Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. In Resumos. São Paulo: SBF. -
NLM
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Resumos. 1999 ; -
Vancouver
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Resumos. 1999 ; - Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr
- Estudo de conexões enfraquecidas em supercondutores
- Gravação magnética digital
- Caracterização Estrutural e magnética de filmes finos de 'CoCr' com anisotropia perpendicular
- Técnicas de produção de filmes finos
- Caracterização nanoestrutural de filmes finos de Ti, Zr e Hf
- Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC
- Magnetic and structural characterization of CoCrPt and CoCr thin films deposited by magnetron sputtering
- Crystallographic and magnetic characterization of CoCr thin films
- Caracterização estrutural e magnética de filmes finos de CoCr com anisotropia magnética perpendicular
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
