Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering (1999)
- Authors:
- Autor USP: OPPENHEIM, IVETTE FRIDA CYMBAUM - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
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ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen; OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum; CHINAGLIA, Eliane F. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Anais.. São Paulo: SBF, 1999. -
APA
Schoenmaker, J., Oppenheim, I. F. C., & Chinaglia, E. F. (1999). Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. In Resumos. São Paulo: SBF. -
NLM
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Resumos. 1999 ; -
Vancouver
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Resumos. 1999 ; - Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr
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- Gravação magnética digital
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