Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM) (1998)
- Authors:
- Autor USP: OPPENHEIM, IVETTE FRIDA CYMBAUM - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1998
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
CHINAGLIA, Eliane F. e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum. Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 20 abr. 2024. -
APA
Chinaglia, E. F., & Oppenheim, I. F. C. (1998). Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). Resumos. 1998 ;[citado 2024 abr. 20 ] -
Vancouver
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). Resumos. 1998 ;[citado 2024 abr. 20 ] - Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr
- Estudo de conexões enfraquecidas em supercondutores
- Gravação magnética digital
- Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering
- Caracterização Estrutural e magnética de filmes finos de 'CoCr' com anisotropia perpendicular
- Caracterização nanoestrutural de filmes finos de Ti, Zr e Hf
- Técnicas de produção de filmes finos
- Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC
- Magnetic and structural characterization of CoCrPt and CoCr thin films deposited by magnetron sputtering
- Crystallographic and magnetic characterization of CoCr thin films
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
