Magnetic and structural characterization of CoCrPt and CoCr thin films deposited by magnetron sputtering (2001)
- Authors:
- Autor USP: OPPENHEIM, IVETTE FRIDA CYMBAUM - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/s0304-8853(01)00097-x
- Subjects: FILMES FINOS; MAGNETISMO
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Journal of Magnetism and Magnetic Materials
- ISSN: 0304-8853
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 226, pt. 2, p. 1653-1655, 2001
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO possui versão em acesso aberto
-
ABNT
SCHOENMAKER, J e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum e CHINAGLIA, Eliane F. Magnetic and structural characterization of CoCrPt and CoCr thin films deposited by magnetron sputtering. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, v. 226, p. 1653-1655, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0304-8853(01)00097-x. Acesso em: 05 mar. 2026. -
APA
Schoenmaker, J., Oppenheim, I. F. C., & Chinaglia, E. F. (2001). Magnetic and structural characterization of CoCrPt and CoCr thin films deposited by magnetron sputtering. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 226, 1653-1655. doi:10.1016/s0304-8853(01)00097-x -
NLM
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Magnetic and structural characterization of CoCrPt and CoCr thin films deposited by magnetron sputtering [Internet]. Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2001 ; 226 1653-1655.[citado 2026 mar. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0304-8853(01)00097-x -
Vancouver
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Magnetic and structural characterization of CoCrPt and CoCr thin films deposited by magnetron sputtering [Internet]. Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2001 ; 226 1653-1655.[citado 2026 mar. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0304-8853(01)00097-x - Análise microestrutural de filmes de Ti depositados por sputtering magnetron DC
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