Propriedades de relaxação dieletro-óptica devido a defeitos em sólidos (1998)
- Authors:
- USP affiliated authors: LI, MAXIMO SIU - IFSC ; HERNANDES, ANTONIO CARLOS - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; DIELÉTRICOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: CETEPE
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 1998
- Source:
- Título: Programa e Resumos
- Conference titles: Simpósio Interunidades de Ciência e Engenharia de Materiais
-
ABNT
SCALVI, Rosa Maria Fernandes e SIU LI, Máximo e HERNANDES, Antônio Carlos. Propriedades de relaxação dieletro-óptica devido a defeitos em sólidos. 1998, Anais.. São Carlos: CETEPE, 1998. . Acesso em: 29 dez. 2025. -
APA
Scalvi, R. M. F., Siu Li, M., & Hernandes, A. C. (1998). Propriedades de relaxação dieletro-óptica devido a defeitos em sólidos. In Programa e Resumos. São Carlos: CETEPE. -
NLM
Scalvi RMF, Siu Li M, Hernandes AC. Propriedades de relaxação dieletro-óptica devido a defeitos em sólidos. Programa e Resumos. 1998 ;[citado 2025 dez. 29 ] -
Vancouver
Scalvi RMF, Siu Li M, Hernandes AC. Propriedades de relaxação dieletro-óptica devido a defeitos em sólidos. Programa e Resumos. 1998 ;[citado 2025 dez. 29 ] - Lead oxyfluoroborate glasses doped with rare-earth elements
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