Investigation of optical, electrical and structural properties of thallium doped KCl crystals and films (1998)
- Authors:
- USP affiliated authors: HERNANDES, ANTONIO CARLOS - IFSC ; LI, MAXIMO SIU - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: FILMES FINOS; MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron
- Publisher place: Campinas
- Date published: 1998
- Source:
- Título: Resumos de Trabalhos
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Aplicações de Vácuo na Indústria e na Ciência-CBRAVIC
-
ABNT
SCALVI, Rosa Maria Fernandes et al. Investigation of optical, electrical and structural properties of thallium doped KCl crystals and films. 1998, Anais.. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron, 1998. . Acesso em: 02 abr. 2026. -
APA
Scalvi, R. M. F., Rubo, E. A. A., Ruggiero, L. O., Hernandes, A. C., & Siu Li, M. (1998). Investigation of optical, electrical and structural properties of thallium doped KCl crystals and films. In Resumos de Trabalhos. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron. -
NLM
Scalvi RMF, Rubo EAA, Ruggiero LO, Hernandes AC, Siu Li M. Investigation of optical, electrical and structural properties of thallium doped KCl crystals and films. Resumos de Trabalhos. 1998 ;[citado 2026 abr. 02 ] -
Vancouver
Scalvi RMF, Rubo EAA, Ruggiero LO, Hernandes AC, Siu Li M. Investigation of optical, electrical and structural properties of thallium doped KCl crystals and films. Resumos de Trabalhos. 1998 ;[citado 2026 abr. 02 ] - Propriedades estruturais e fotoluminescentes de pós do sistema YAG-Si'O IND.2':Er obtidos pelo método de precursores poliméricos
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