Caracterização de camadas a.R. depositadas com monitoração ótica em tempo real (1990)
- Authors:
- Autor USP: CELASCHI, SERGIO - EESC
- Unidade: EESC
- Assunto: ÓPTICA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
GARCIA, G A e ROBERTO FILHO, J e CELASCHI, S. Caracterização de camadas a.R. depositadas com monitoração ótica em tempo real. 1990, Anais.. Caxambu: Sbf, 1990. . Acesso em: 26 jan. 2026. -
APA
Garcia, G. A., Roberto Filho, J., & Celaschi, S. (1990). Caracterização de camadas a.R. depositadas com monitoração ótica em tempo real. In Anais. Caxambu: Sbf. -
NLM
Garcia GA, Roberto Filho J, Celaschi S. Caracterização de camadas a.R. depositadas com monitoração ótica em tempo real. Anais. 1990 ;[citado 2026 jan. 26 ] -
Vancouver
Garcia GA, Roberto Filho J, Celaschi S. Caracterização de camadas a.R. depositadas com monitoração ótica em tempo real. Anais. 1990 ;[citado 2026 jan. 26 ] - Unusual variability of the lattice constant in polycrystal-line epitaxial growth of superconducting a15 'NB'-'SI'
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