Unusual variability of the lattice constant in polycrystal-line epitaxial growth of superconducting a15 'NB'-'SI' (1986)
- Authors:
- Autor USP: CELASCHI, SERGIO - EESC
- Unidade: EESC
- DOI: 10.1016/0040-6090(86)90033-7
- Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Thin Solid Films
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 137, p. 315-324, Aug. 1986
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
FELDMAN, R. D et al. Unusual variability of the lattice constant in polycrystal-line epitaxial growth of superconducting a15 'NB'-'SI'. Thin Solid Films, v. 137, p. 315-324, 1986Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0040-6090(86)90033-7. Acesso em: 23 jan. 2026. -
APA
Feldman, R. D., Opila, R. L., Geballe, T. H., & Celaschi, S. (1986). Unusual variability of the lattice constant in polycrystal-line epitaxial growth of superconducting a15 'NB'-'SI'. Thin Solid Films, 137, 315-324. doi:10.1016/0040-6090(86)90033-7 -
NLM
Feldman RD, Opila RL, Geballe TH, Celaschi S. Unusual variability of the lattice constant in polycrystal-line epitaxial growth of superconducting a15 'NB'-'SI' [Internet]. Thin Solid Films. 1986 ; 137 315-324.[citado 2026 jan. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(86)90033-7 -
Vancouver
Feldman RD, Opila RL, Geballe TH, Celaschi S. Unusual variability of the lattice constant in polycrystal-line epitaxial growth of superconducting a15 'NB'-'SI' [Internet]. Thin Solid Films. 1986 ; 137 315-324.[citado 2026 jan. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(86)90033-7 - Partially oxidized amorphous silicon as tunneling barrier for josephson devices
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Informações sobre o DOI: 10.1016/0040-6090(86)90033-7 (Fonte: oaDOI API)
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