X-ray absorption spectroscopy study on `La IND.0:6´`Sr IND.0:4´Co`O IND.3´ and `La IND.0:6´`Sr IND.0:4`Co IND.1-y´`Fe IND.y´`O IND.3´ nanotubes and nanorods for IT-SOFC cathodes (2013)
- Autores:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
- Palavras-chave do autor: INTERMEDIATE-TEMPERATURES SOLID-OXIDE FUEL CELLS (IT-SOFCs)
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Nome do evento: Reunião Anual de Usuários do LNLS/CNPEM
-
ABNT
MEJIA-GOMEZ, A et al. X-ray absorption spectroscopy study on `La IND.0:6´`Sr IND.0:4´Co`O IND.3´ and `La IND.0:6´`Sr IND.0:4`Co IND.1-y´`Fe IND.y´`O IND.3´ nanotubes and nanorods for IT-SOFC cathodes. 2013, Anais.. Campinas: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2013. Disponível em: http://lnls.cnpem.br/rau/files/2013/04/Livro-Resumos-23RAU.pdf. Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Mejia-Gomez, A., Sacanell, J., Soldati, A. L., Fantini, M. C. de A., & Lamas, D. G. (2013). X-ray absorption spectroscopy study on `La IND.0:6´`Sr IND.0:4´Co`O IND.3´ and `La IND.0:6´`Sr IND.0:4`Co IND.1-y´`Fe IND.y´`O IND.3´ nanotubes and nanorods for IT-SOFC cathodes. In . Campinas: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://lnls.cnpem.br/rau/files/2013/04/Livro-Resumos-23RAU.pdf -
NLM
Mejia-Gomez A, Sacanell J, Soldati AL, Fantini MC de A, Lamas DG. X-ray absorption spectroscopy study on `La IND.0:6´`Sr IND.0:4´Co`O IND.3´ and `La IND.0:6´`Sr IND.0:4`Co IND.1-y´`Fe IND.y´`O IND.3´ nanotubes and nanorods for IT-SOFC cathodes [Internet]. 2013 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://lnls.cnpem.br/rau/files/2013/04/Livro-Resumos-23RAU.pdf -
Vancouver
Mejia-Gomez A, Sacanell J, Soldati AL, Fantini MC de A, Lamas DG. X-ray absorption spectroscopy study on `La IND.0:6´`Sr IND.0:4´Co`O IND.3´ and `La IND.0:6´`Sr IND.0:4`Co IND.1-y´`Fe IND.y´`O IND.3´ nanotubes and nanorods for IT-SOFC cathodes [Internet]. 2013 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://lnls.cnpem.br/rau/files/2013/04/Livro-Resumos-23RAU.pdf - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
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