Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h (1992)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Cristalografia
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1992
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Reunião Sociedade Brasileira de Cristalografia
-
ABNT
VELASQUEZ, E. L. Z. e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h. 1992, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Cristalografia, 1992. . Acesso em: 01 jan. 2026. -
APA
Velasquez, E. L. Z., & Fantini, M. C. de A. (1992). Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Cristalografia. -
NLM
Velasquez ELZ, Fantini MC de A. Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h. Resumos. 1992 ;[citado 2026 jan. 01 ] -
Vancouver
Velasquez ELZ, Fantini MC de A. Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h. Resumos. 1992 ;[citado 2026 jan. 01 ] - Filmes finos de 'NI'' (OH) IND.X' depositados por precipitacao quimica: a dependencia das propriedades eletrocromicas com a temperatura
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