Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI' (1989)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: SILÍCIO
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Journal of Applied Physics
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.66, n.5 , p.2148-55, 1989
-
ABNT
FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu et al. Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'. Journal of Applied Physics, v. 66, n. 5 , p. 2148-55, 1989Tradução . . Acesso em: 20 abr. 2024. -
APA
Fantini, M. C. de A., Shen, W. M., Tomkiewicz, M., & Gambino, J. P. (1989). Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'. Journal of Applied Physics, 66( 5 ), 2148-55. -
NLM
Fantini MC de A, Shen WM, Tomkiewicz M, Gambino JP. Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'. Journal of Applied Physics. 1989 ;66( 5 ): 2148-55.[citado 2024 abr. 20 ] -
Vancouver
Fantini MC de A, Shen WM, Tomkiewicz M, Gambino JP. Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'. Journal of Applied Physics. 1989 ;66( 5 ): 2148-55.[citado 2024 abr. 20 ] - Propriedades estruturais de filmes eletrocromicos de 'NI''O IND.X'
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