ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Um estudo experimental sobre a luz negra com smartphone (2020)
Soga, Diogo; Guimarães, Michele Hidemi Ueno; Muramatsu, Mikiya
Source: Revista Brasileira de Ensino de Física. Unidade: IF
Subjects: ÓPTICA, FLUORESCÊNCIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SOGA, Diogo e GUIMARÃES, Michele Hidemi Ueno e MURAMATSU, Mikiya. Um estudo experimental sobre a luz negra com smartphone. Revista Brasileira de Ensino de Física, v. 42, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/1806-9126-RBEF-2019-0107. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Soga, D., Guimarães, M. H. U., & Muramatsu, M. (2020). Um estudo experimental sobre a luz negra com smartphone. Revista Brasileira de Ensino de Física, 42. doi:10.1590/1806-9126-RBEF-2019-0107
NLM
Soga D, Guimarães MHU, Muramatsu M. Um estudo experimental sobre a luz negra com smartphone [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2020 ; 42[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1590/1806-9126-RBEF-2019-0107
Vancouver
Soga D, Guimarães MHU, Muramatsu M. Um estudo experimental sobre a luz negra com smartphone [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2020 ; 42[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1590/1806-9126-RBEF-2019-0107
Artigo de periodico
Real-time holographic interferometry using photorefractive sillenite crystals with phase-stepping technique (2005)
Gesualdi, Marcos Roberto da Rocha; Soga, Diogo; Muramatsu, Mikiya
Source: Optics and lasers in engineering. Unidade: IF
Subjects: ÓPTICA, HOLOGRAFIA, AUTÔMATOS CELULARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GESUALDI, Marcos Roberto da Rocha e SOGA, Diogo e MURAMATSU, Mikiya. Real-time holographic interferometry using photorefractive sillenite crystals with phase-stepping technique. Optics and lasers in engineering, v. 44, n. 1, p. 56-67, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2005.03.006. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Gesualdi, M. R. da R., Soga, D., & Muramatsu, M. (2005). Real-time holographic interferometry using photorefractive sillenite crystals with phase-stepping technique. Optics and lasers in engineering, 44( 1), 56-67. doi:10.1016/j.optlaseng.2005.03.006
NLM
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Real-time holographic interferometry using photorefractive sillenite crystals with phase-stepping technique [Internet]. Optics and lasers in engineering. 2005 ; 44( 1): 56-67.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2005.03.006
Vancouver
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Real-time holographic interferometry using photorefractive sillenite crystals with phase-stepping technique [Internet]. Optics and lasers in engineering. 2005 ; 44( 1): 56-67.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2005.03.006
Trabalho de evento-resumo
Real-time holographic interferometry using photorefractive 'Bi IND. 12'Si'O IND. 20' crystals and their applications in surfaces analysis with phase-stepping technique (2003)
Gesualdi, Marcos Roberto da Rocha; Soga, Diogo; Muramatsu, Mikiya
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada 26. Unidade: IF
Subjects: ÓPTICA, INTERFERÊNCIA DA LUZ, SUPERFÍCIE FÍSICA, HOLOGRAFIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GESUALDI, Marcos Roberto da Rocha e SOGA, Diogo e MURAMATSU, Mikiya. Real-time holographic interferometry using photorefractive 'Bi IND. 12'Si'O IND. 20' crystals and their applications in surfaces analysis with phase-stepping technique. 2003, Anais.. São Paulo: SBF, 2003. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Gesualdi, M. R. da R., Soga, D., & Muramatsu, M. (2003). Real-time holographic interferometry using photorefractive 'Bi IND. 12'Si'O IND. 20' crystals and their applications in surfaces analysis with phase-stepping technique. In Resumos. São Paulo: SBF.
NLM
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Real-time holographic interferometry using photorefractive 'Bi IND. 12'Si'O IND. 20' crystals and their applications in surfaces analysis with phase-stepping technique. Resumos. 2003 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Real-time holographic interferometry using photorefractive 'Bi IND. 12'Si'O IND. 20' crystals and their applications in surfaces analysis with phase-stepping technique. Resumos. 2003 ;[citado 2024 out. 17 ]
Trabalho de evento-resumo
Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO) (2001)
Gesualdi, Marcos Roberto da Rocha; Soga, Diogo; Muramatsu, Mikiya
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: ÓPTICA, FÍSICA ÓPTICA, HOLOGRAFIA, INTERFERÊNCIA DA LUZ
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GESUALDI, Marcos Roberto da Rocha e SOGA, Diogo e MURAMATSU, Mikiya. Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). 2001, Anais.. São Paulo: SBF, 2001. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Gesualdi, M. R. da R., Soga, D., & Muramatsu, M. (2001). Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). In Resumos. São Paulo: SBF.
NLM
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). Resumos. 2001 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). Resumos. 2001 ;[citado 2024 out. 17 ]
Artigo de periodico
Study of the electro-erosion process by the analysis of speckle correlation (2001)
Paiva, R Dias; Gaggioli, Nestor; Hogert, Elsa N; Landau, Monica R; Marengo, Jose A ; Muramatsu, Mikiya; Gale, M Fernanda Ruiz; Soga, Diogo
Source: Insight. Unidade: IF
Subjects: ESPECTROSCOPIA ÓPTICA, ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PAIVA, R Dias et al. Study of the electro-erosion process by the analysis of speckle correlation. Insight, v. 43, n. 4, p. 235-240, 2001Tradução . . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Paiva, R. D., Gaggioli, N., Hogert, E. N., Landau, M. R., Marengo, J. A., Muramatsu, M., et al. (2001). Study of the electro-erosion process by the analysis of speckle correlation. Insight, 43( 4), 235-240.
NLM
Paiva RD, Gaggioli N, Hogert EN, Landau MR, Marengo JA, Muramatsu M, Gale MFR, Soga D. Study of the electro-erosion process by the analysis of speckle correlation. Insight. 2001 ; 43( 4): 235-240.[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Paiva RD, Gaggioli N, Hogert EN, Landau MR, Marengo JA, Muramatsu M, Gale MFR, Soga D. Study of the electro-erosion process by the analysis of speckle correlation. Insight. 2001 ; 43( 4): 235-240.[citado 2024 out. 17 ]
Dissertação (Mestrado)
Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase (2000)
Soga, Diogo ; Muramatsu, Mikiya (Orientador)
Unidade: IF
Subjects: ÓPTICA, DISPERSÃO DA LUZ, INTERFEROMETRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SOGA, Diogo. Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase. 2000. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2000. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-153443/. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Soga, D. (2000). Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-153443/
NLM
Soga D. Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase [Internet]. 2000 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-153443/
Vancouver
Soga D. Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase [Internet]. 2000 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-153443/
Trabalho de evento-resumo
Técnicas de interferometria holográfica usando cristais fotorrefrativos do tipo 'Bi IND.12' Si'O IND.20' (2000)
Gesualdi, Marcos Roberto da Rocha; Soga, Diogo; Muramatsu, Mikiya
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GESUALDI, Marcos Roberto da Rocha e SOGA, Diogo e MURAMATSU, Mikiya. Técnicas de interferometria holográfica usando cristais fotorrefrativos do tipo 'Bi IND.12' Si'O IND.20'. 2000, Anais.. São Paulo: SBF, 2000. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxiii/programa/res0731.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Gesualdi, M. R. da R., Soga, D., & Muramatsu, M. (2000). Técnicas de interferometria holográfica usando cristais fotorrefrativos do tipo 'Bi IND.12' Si'O IND.20'. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxiii/programa/res0731.pdf
NLM
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Técnicas de interferometria holográfica usando cristais fotorrefrativos do tipo 'Bi IND.12' Si'O IND.20' [Internet]. Resumos. 2000 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxiii/programa/res0731.pdf
Vancouver
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Técnicas de interferometria holográfica usando cristais fotorrefrativos do tipo 'Bi IND.12' Si'O IND.20' [Internet]. Resumos. 2000 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxiii/programa/res0731.pdf
Trabalho de evento
Aplicação de correlação de speckle para análise de corrosão (1998)
Soga, Diogo; Paiva Junior, Raul Dias; Muramatsu, Mikiya; Hogert, Elsa Noemi; Landau, Monica Roxana; Gale, Maria Fernanda Ruiz; Gaggioli, Nestor Gustavo
Source: Anais. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Anais de Optica. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SOGA, Diogo et al. Aplicação de correlação de speckle para análise de corrosão. 1998, Anais.. Campinas: Instituto de Fisica Gleb Wataghin, 1998. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Soga, D., Paiva Junior, R. D., Muramatsu, M., Hogert, E. N., Landau, M. R., Gale, M. F. R., & Gaggioli, N. G. (1998). Aplicação de correlação de speckle para análise de corrosão. In Anais. Campinas: Instituto de Fisica Gleb Wataghin.
NLM
Soga D, Paiva Junior RD, Muramatsu M, Hogert EN, Landau MR, Gale MFR, Gaggioli NG. Aplicação de correlação de speckle para análise de corrosão. Anais. 1998 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Soga D, Paiva Junior RD, Muramatsu M, Hogert EN, Landau MR, Gale MFR, Gaggioli NG. Aplicação de correlação de speckle para análise de corrosão. Anais. 1998 ;[citado 2024 out. 17 ]

USP Schools

ReP

Filtros

Authors

Date published

Subjects

Source title

Non normalized affiliation