Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO) (2001)
- Authors:
- Autor USP: MURAMATSU, MIKIYA - IF
- Unidade: IF
- Subjects: ÓPTICA; FÍSICA ÓPTICA; HOLOGRAFIA; INTERFERÊNCIA DA LUZ
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
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ABNT
GESUALDI, Marcos Roberto da Rocha e SOGA, Diogo e MURAMATSU, Mikiya. Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). 2001, Anais.. São Paulo: SBF, 2001. . Acesso em: 14 mar. 2026. -
APA
Gesualdi, M. R. da R., Soga, D., & Muramatsu, M. (2001). Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). In Resumos. São Paulo: SBF. -
NLM
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). Resumos. 2001 ;[citado 2026 mar. 14 ] -
Vancouver
Gesualdi MR da R, Soga D, Muramatsu M. Interferometria holográfica em tempo real com cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12' 'SiO IND.20 (BSO). Resumos. 2001 ;[citado 2026 mar. 14 ] - Study of the electro-erosion process by the analysis of speckle correlation
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