ReP USP - Resultado da busca

Trabalho de evento
Corner effect on capacitance-voltage curves in triple gate FinFET (2008)
Rodrigues, Michele; Sonnenberg, Victor ; Martino, João Antonio
Fonte: SBMICRO 2008: Anais. Nome do evento: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices SBMICRO. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, Michele e SONNENBERG, Victor e MARTINO, João Antonio. Corner effect on capacitance-voltage curves in triple gate FinFET. 2008, Anais.. Pennington: The Electrochemical Society, 2008. . Acesso em: 15 nov. 2025.
APA
Rodrigues, M., Sonnenberg, V., & Martino, J. A. (2008). Corner effect on capacitance-voltage curves in triple gate FinFET. In SBMICRO 2008: Anais. Pennington: The Electrochemical Society.
NLM
Rodrigues M, Sonnenberg V, Martino JA. Corner effect on capacitance-voltage curves in triple gate FinFET. SBMICRO 2008: Anais. 2008 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Vancouver
Rodrigues M, Sonnenberg V, Martino JA. Corner effect on capacitance-voltage curves in triple gate FinFET. SBMICRO 2008: Anais. 2008 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Trabalho de evento
Triple gate finFET parameter extraction using high frequency capacitance - voltage curves (2007)
Rodrigues, Michele; Sonnenberg, Victor ; Martino, João Antonio
Fonte: SBMicro 2007. Nome do evento: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices SBMICRO. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, Michele e SONNENBERG, Victor e MARTINO, João Antonio. Triple gate finFET parameter extraction using high frequency capacitance - voltage curves. 2007, Anais.. Pennington: The Electrochemical Society, 2007. . Acesso em: 15 nov. 2025.
APA
Rodrigues, M., Sonnenberg, V., & Martino, J. A. (2007). Triple gate finFET parameter extraction using high frequency capacitance - voltage curves. In SBMicro 2007. Pennington: The Electrochemical Society.
NLM
Rodrigues M, Sonnenberg V, Martino JA. Triple gate finFET parameter extraction using high frequency capacitance - voltage curves. SBMicro 2007. 2007 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Vancouver
Rodrigues M, Sonnenberg V, Martino JA. Triple gate finFET parameter extraction using high frequency capacitance - voltage curves. SBMicro 2007. 2007 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Trabalho de evento
Simple method to determine the poly gate doping concentration based on poly depletion effect (2005)
Rodrigues, Michele; Sonnenberg, Victor ; Martino, João Antonio
Fonte: Proceedings v. 2005-08. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2005. Nome do evento: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices SBMICRO. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, Michele e SONNENBERG, Victor e MARTINO, João Antonio. Simple method to determine the poly gate doping concentration based on poly depletion effect. 2005, Anais.. Pennington: The Electrochemical Society, 2005. . Acesso em: 15 nov. 2025.
APA
Rodrigues, M., Sonnenberg, V., & Martino, J. A. (2005). Simple method to determine the poly gate doping concentration based on poly depletion effect. In Proceedings v. 2005-08. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2005. Pennington: The Electrochemical Society.
NLM
Rodrigues M, Sonnenberg V, Martino JA. Simple method to determine the poly gate doping concentration based on poly depletion effect. Proceedings v. 2005-08. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2005. 2005 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Vancouver
Rodrigues M, Sonnenberg V, Martino JA. Simple method to determine the poly gate doping concentration based on poly depletion effect. Proceedings v. 2005-08. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2005. 2005 ;[citado 2025 nov. 15 ]

Unidades USP

ReP

Filtros