Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS
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ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Leite, A. R., Silva, T. F. da, et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdfNLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdfVancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf