Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de 
; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, A. R.; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, R.; Allegro, P. R. P.; Santos, H. C.; Alberton, S. G.; Scarduelli, V. B.; Silveira, M. A. G.; Melo, M. A. A. de; Santos, R. B. B.; Giacomini, R.; Oliveira, J. A.; Leite, F. G. H.; Sayeg, Isaac Jamil
Source: Resumos. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidades: IF, IGC
Subjects: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS PESADOS
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ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 15 set. 2024.APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Macchione, E. L. A., Leite, A. R., et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 set. 15 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 set. 15 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
