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Trabalho de evento
Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados (1986)
Bodinaud, Jean Albert; Montoro, Carlos Galup
Nome do evento: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidades: IEE, EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
BODINAUD, Jean Albert e MONTORO, Carlos Galup. Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. 1986, Anais.. Campinas: Sbmicro/Telebras, 1986. . Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Bodinaud, J. A., & Montoro, C. G. (1986). Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. In . Campinas: Sbmicro/Telebras.
NLM
Bodinaud JA, Montoro CG. Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. 1986 ;[citado 2024 nov. 15 ]
Vancouver
Bodinaud JA, Montoro CG. Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. 1986 ;[citado 2024 nov. 15 ]
Trabalho de evento
Modelo linear del gaas fet para analysis en el dominio del tiempo (1986)
Perez, J; Consonni, Denise ; Howes, M J
Fonte: Ursi'86: Libro de Actas. Nome do evento: Symposium Nacional del Comite Espanol de la Union Cientifica Internacional de Radio. Unidade: EP
Assuntos: CIRCUITOS INTEGRADOS, GÁLIO
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ABNT
PEREZ, J e CONSONNI, Denise e HOWES, M J. Modelo linear del gaas fet para analysis en el dominio del tiempo. 1986, Anais.. Gerona: Ursi, 1986. . Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Perez, J., Consonni, D., & Howes, M. J. (1986). Modelo linear del gaas fet para analysis en el dominio del tiempo. In Ursi'86: Libro de Actas. Gerona: Ursi.
NLM
Perez J, Consonni D, Howes MJ. Modelo linear del gaas fet para analysis en el dominio del tiempo. Ursi'86: Libro de Actas. 1986 ;[citado 2024 nov. 15 ]
Vancouver
Perez J, Consonni D, Howes MJ. Modelo linear del gaas fet para analysis en el dominio del tiempo. Ursi'86: Libro de Actas. 1986 ;[citado 2024 nov. 15 ]
Trabalho de evento
Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados (1986)
Ramírez Fernandez, Francisco Javier ; Bodinaud, Jean Albert
Fonte: Anais. Nome do evento: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidades: EP, IEE
Assuntos: TRANSISTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier e BODINAUD, Jean Albert. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. 1986, Anais.. Campinas: Sbmicro/Telebras, 1986. . Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Ramírez Fernandez, F. J., & Bodinaud, J. A. (1986). Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. In Anais. Campinas: Sbmicro/Telebras.
NLM
Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. Anais. 1986 ;[citado 2024 nov. 15 ]
Vancouver
Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. Anais. 1986 ;[citado 2024 nov. 15 ]
Artigo de periodico
Tecnologia CMOS: os integrados CMOS no controle de processos industriais (1986)
Zuffo, João Antonio
Fonte: Nova Eletrônica. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
ZUFFO, João Antonio. Tecnologia CMOS: os integrados CMOS no controle de processos industriais. Nova Eletrônica, v. 10, n. 110, p. 12-7, 1986Tradução . . Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Zuffo, J. A. (1986). Tecnologia CMOS: os integrados CMOS no controle de processos industriais. Nova Eletrônica, 10( 110), 12-7.
NLM
Zuffo JA. Tecnologia CMOS: os integrados CMOS no controle de processos industriais. Nova Eletrônica. 1986 ;10( 110): 12-7.[citado 2024 nov. 15 ]
Vancouver
Zuffo JA. Tecnologia CMOS: os integrados CMOS no controle de processos industriais. Nova Eletrônica. 1986 ;10( 110): 12-7.[citado 2024 nov. 15 ]

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