Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados (1986)
- Authors:
- USP affiliated authors: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMIREZ - EP ; BODINAUD, JEAN ALBERT - IEE
- Schools: EP; IEE
- Subjects: TRANSISTORES; CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sbmicro/Telebras
- Place of publication: Campinas
- Date published: 1986
- Source:
- Título do periódico: Anais
- Conference title: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica
-
ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier; BODINAUD, Jean Albert. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. Anais.. Campinas: Sbmicro/Telebras, 1986. -
APA
Ramírez Fernandez, F. J., & Bodinaud, J. A. (1986). Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. In Anais. Campinas: Sbmicro/Telebras. -
NLM
Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. Anais. 1986 ; -
Vancouver
Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. Anais. 1986 ; - Correlacao dos parametros do modelo de transistor bipolar para simulacao estatica de circuitos
- Modelo fisico dos fenomenos de avalanche do transistor bipolar para simulacao de circuitos
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