Analysis of the histogram testing applied to obtain the effective bit number for ADC (1994)
Soares Junior, João Navarro 
; Krusique, J L; Van Noije, Wilhelmus Adrianus Maria
Fonte: Anais. Nome do evento: Simposio Brasileiro de Concepcao de Circuitos Integrados. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
SOARES JUNIOR, João Navarro e KRUSIQUE, J L e VAN NOIJE, Wilhelmus Adrianus Maria. Analysis of the histogram testing applied to obtain the effective bit number for ADC. 1994, Anais.. Porto Alegre: Sbc/Ufrgs, 1994. . Acesso em: 15 nov. 2025.APA
Soares Junior, J. N., Krusique, J. L., & Van Noije, W. A. M. (1994). Analysis of the histogram testing applied to obtain the effective bit number for ADC. In Anais. Porto Alegre: Sbc/Ufrgs.NLM
Soares Junior JN, Krusique JL, Van Noije WAM. Analysis of the histogram testing applied to obtain the effective bit number for ADC. Anais. 1994 ;[citado 2025 nov. 15 ]Vancouver
Soares Junior JN, Krusique JL, Van Noije WAM. Analysis of the histogram testing applied to obtain the effective bit number for ADC. Anais. 1994 ;[citado 2025 nov. 15 ]
