Menu

Filtros : "CIRCUITOS INTEGRADOS" "Cossi Junior, Roberto Cangellar" Limpar

Filtros

Limitar por data

  • 1

1 - 2 (2 registros)

  • Trabalho de evento

    Boundary-scan test of multichip modules (1996)

    Cossi Junior, Roberto Cangellar; Amazonas, José Roberto de Almeida

    Fonte: Proceedings. Nome do evento: Conference of the Brazilian Microelectronics Society. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    Como citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar e AMAZONAS, José Roberto de Almeida. Boundary-scan test of multichip modules. 1996, Anais.. São Paulo: Sbmicro, 1996. . Acesso em: 16 nov. 2025.

    • APA

      Cossi Junior, R. C., & Amazonas, J. R. de A. (1996). Boundary-scan test of multichip modules. In Proceedings. São Paulo: Sbmicro.

    • NLM

      Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Boundary-scan test of multichip modules. Proceedings. 1996 ;[citado 2025 nov. 16 ]

    • Vancouver

      Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Boundary-scan test of multichip modules. Proceedings. 1996 ;[citado 2025 nov. 16 ]

  • Artigo de periodico

    Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip (1996)

    Cossi Junior, Roberto Cangellar; Amazonas, José Roberto de Almeida

    Fonte: Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    Versão PublicadaComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar e AMAZONAS, José Roberto de Almeida. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, n. 14, 1996Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf. Acesso em: 16 nov. 2025.

    • APA

      Cossi Junior, R. C., & Amazonas, J. R. de A. (1996). Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, (14). Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf

    • NLM

      Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 16 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf

    • Vancouver

      Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 16 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf
  • 1

1 - 2 (2 registros)

Biblioteca Digital de Produção Intelectual da Universidade de São Paulo     2012 - 2025