Boundary-scan test of multichip modules (1996)
- Authors:
- Autor USP: AMAZONAS, JOSE ROBERTO DE ALMEIDA - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Proceedings
- Conference titles: Conference of the Brazilian Microelectronics Society
-
ABNT
COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar e AMAZONAS, José Roberto de Almeida. Boundary-scan test of multichip modules. 1996, Anais.. São Paulo: Sbmicro, 1996. . Acesso em: 15 jun. 2025. -
APA
Cossi Junior, R. C., & Amazonas, J. R. de A. (1996). Boundary-scan test of multichip modules. In Proceedings. São Paulo: Sbmicro. -
NLM
Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Boundary-scan test of multichip modules. Proceedings. 1996 ;[citado 2025 jun. 15 ] -
Vancouver
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