Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício (1997)
Source: Abstracts. Conference titles: Meeting on nuclear applications. Unidades: IF, IEE
Assunto: RAIOS X
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ABNT
TERINI, Ricardo A et al. Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. 1997, Anais.. São Paulo: IPEN, 1997. . Acesso em: 16 nov. 2024.APA
Terini, R. A., Costa, P. R., Furquim, T. A. C., Yanikian, D., & Herdade, S. B. (1997). Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. In Abstracts. São Paulo: IPEN.NLM
Terini RA, Costa PR, Furquim TAC, Yanikian D, Herdade SB. Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. Abstracts. 1997 ;[citado 2024 nov. 16 ]Vancouver
Terini RA, Costa PR, Furquim TAC, Yanikian D, Herdade SB. Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. Abstracts. 1997 ;[citado 2024 nov. 16 ]
