Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício (1997)
- Authors:
- USP affiliated authors: HERDADE, SILVIO BRUNI - IF ; COSTA, PAULO ROBERTO - IEE ; FURQUIM, TANIA APARECIDA CORREIA - IEE
- Unidades: IF; IEE
- Assunto: RAIOS X
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Abstracts
- Conference titles: Meeting on nuclear applications
-
ABNT
TERINI, Ricardo A et al. Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. 1997, Anais.. São Paulo: IPEN, 1997. . Acesso em: 31 dez. 2025. -
APA
Terini, R. A., Costa, P. R., Furquim, T. A. C., Yanikian, D., & Herdade, S. B. (1997). Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. In Abstracts. São Paulo: IPEN. -
NLM
Terini RA, Costa PR, Furquim TAC, Yanikian D, Herdade SB. Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. Abstracts. 1997 ;[citado 2025 dez. 31 ] -
Vancouver
Terini RA, Costa PR, Furquim TAC, Yanikian D, Herdade SB. Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. Abstracts. 1997 ;[citado 2025 dez. 31 ] - Measurements of discrete and continuos x-ray spectra with a photodiode at room temperature
- Measurements of discrete and continuous x-ray spectra with a photodiode at room temperature: x-ray spectral measurements with a photodiode
- Caracterização de feixes de raios-X usando um fotodiodo de silício. (Disponível em papel e CD-ROM)
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