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  • Artigo de periodico

    Dielectric response of kcn crystals at ultra-low frequencies (1987)

    Ziemath, E C; Aegerter, Michel André; Slaets, Jan Frans Willem

    Fonte: Crystal Lattice Defects of Amorphous Materials. Unidade: IFSC

    Assuntos: FÍSICA, CRESCIMENTO DE CRISTAIS

    PrivadoAcesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ZIEMATH, E C e AEGERTER, Michel André e SLAETS, Jan Frans Willem. Dielectric response of kcn crystals at ultra-low frequencies. Crystal Lattice Defects of Amorphous Materials, v. 15, p. 375-80, 1987Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0038-1098(86)90788-X. Acesso em: 05 dez. 2025.

    • APA

      Ziemath, E. C., Aegerter, M. A., & Slaets, J. F. W. (1987). Dielectric response of kcn crystals at ultra-low frequencies. Crystal Lattice Defects of Amorphous Materials, 15, 375-80. doi:10.1016/0038-1098(86)90788-X

    • NLM

      Ziemath EC, Aegerter MA, Slaets JFW. Dielectric response of kcn crystals at ultra-low frequencies [Internet]. Crystal Lattice Defects of Amorphous Materials. 1987 ;15 375-80.[citado 2025 dez. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0038-1098(86)90788-X

    • Vancouver

      Ziemath EC, Aegerter MA, Slaets JFW. Dielectric response of kcn crystals at ultra-low frequencies [Internet]. Crystal Lattice Defects of Amorphous Materials. 1987 ;15 375-80.[citado 2025 dez. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0038-1098(86)90788-X

  • Artigo de periodico

    Dielectric measurement of silica aerogels (1987)

    Santos, D I; Ziemath, E C; Silva, A. A.; Basso, Heitor Cury; Aegerter, Michel André

    Fonte: Crystal Lattice Defects and Amorphous Materials. Unidade: IFSC

    Assuntos: CRESCIMENTO DE CRISTAIS, FÍSICA

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SANTOS, D I et al. Dielectric measurement of silica aerogels. Crystal Lattice Defects and Amorphous Materials, v. 15, p. 381-5, 1987Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.22028/D291-24129. Acesso em: 05 dez. 2025.

    • APA

      Santos, D. I., Ziemath, E. C., Silva, A. A., Basso, H. C., & Aegerter, M. A. (1987). Dielectric measurement of silica aerogels. Crystal Lattice Defects and Amorphous Materials, 15, 381-5. doi:10.22028/D291-24129

    • NLM

      Santos DI, Ziemath EC, Silva AA, Basso HC, Aegerter MA. Dielectric measurement of silica aerogels [Internet]. Crystal Lattice Defects and Amorphous Materials. 1987 ;15 381-5.[citado 2025 dez. 05 ] Available from: https://doi.org/10.22028/D291-24129

    • Vancouver

      Santos DI, Ziemath EC, Silva AA, Basso HC, Aegerter MA. Dielectric measurement of silica aerogels [Internet]. Crystal Lattice Defects and Amorphous Materials. 1987 ;15 381-5.[citado 2025 dez. 05 ] Available from: https://doi.org/10.22028/D291-24129
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