Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR (1997)
Beltran, A.; Galeazzo, Elisabete 
Source: Resumos. Conference titles: Simpósio de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
BELTRAN, A. e GALEAZZO, Elisabete. Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. 1997, Anais.. São Paulo: USP, 1997. . Acesso em: 15 nov. 2025.APA
Beltran, A., & Galeazzo, E. (1997). Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. In Resumos. São Paulo: USP.NLM
Beltran A, Galeazzo E. Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. Resumos. 1997 ;[citado 2025 nov. 15 ]Vancouver
Beltran A, Galeazzo E. Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. Resumos. 1997 ;[citado 2025 nov. 15 ]
