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Artigo de periodico
Electrical transport properties and complex impedance investigation of Fe3+ and La3+ co-doping (Pb,Sr)TiO3 thin films (2018)
Pontes, F. M.; Pontes, D. S. L.; Chiquito, A. J.; Colmenares, Y. N.; Mastelaro, Valmor Roberto ; Longo, E.
Fonte: Materials Science and Engineering B. Unidade: IFSC
Assuntos: ESPECTROSCOPIA, FILMES FINOS, DIELÉTRICOS
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ABNT
PONTES, F. M. et al. Electrical transport properties and complex impedance investigation of Fe3+ and La3+ co-doping (Pb,Sr)TiO3 thin films. Materials Science and Engineering B, v. 236-237, p. 179-188, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2018.11.013. Acesso em: 10 nov. 2025.
APA
Pontes, F. M., Pontes, D. S. L., Chiquito, A. J., Colmenares, Y. N., Mastelaro, V. R., & Longo, E. (2018). Electrical transport properties and complex impedance investigation of Fe3+ and La3+ co-doping (Pb,Sr)TiO3 thin films. Materials Science and Engineering B, 236-237, 179-188. doi:10.1016/j.mseb.2018.11.013
NLM
Pontes FM, Pontes DSL, Chiquito AJ, Colmenares YN, Mastelaro VR, Longo E. Electrical transport properties and complex impedance investigation of Fe3+ and La3+ co-doping (Pb,Sr)TiO3 thin films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2018 ; 236-237 179-188.[citado 2025 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2018.11.013
Vancouver
Pontes FM, Pontes DSL, Chiquito AJ, Colmenares YN, Mastelaro VR, Longo E. Electrical transport properties and complex impedance investigation of Fe3+ and La3+ co-doping (Pb,Sr)TiO3 thin films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2018 ; 236-237 179-188.[citado 2025 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2018.11.013
Artigo de periodico
Eletrical characterization of in situ polymerized polyaniline thin films (2007)
Travain, Silmar Antonio; Leal Ferreira, Guilherme Fontes; Giacometti, José Alberto ; Bianchi, R. F.
Fonte: Materials Science and Engineering B. Unidade: IFSC
Assuntos: FILMES FINOS, POLIMERIZAÇÃO, CONDUÇÃO
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ABNT
TRAVAIN, Silmar Antonio et al. Eletrical characterization of in situ polymerized polyaniline thin films. Materials Science and Engineering B, v. 143, n. 1/3, p. 31-37, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2007.07.071. Acesso em: 10 nov. 2025.
APA
Travain, S. A., Leal Ferreira, G. F., Giacometti, J. A., & Bianchi, R. F. (2007). Eletrical characterization of in situ polymerized polyaniline thin films. Materials Science and Engineering B, 143( 1/3), 31-37. doi:10.1016/j.mseb.2007.07.071
NLM
Travain SA, Leal Ferreira GF, Giacometti JA, Bianchi RF. Eletrical characterization of in situ polymerized polyaniline thin films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2007 ; 143( 1/3): 31-37.[citado 2025 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2007.07.071
Vancouver
Travain SA, Leal Ferreira GF, Giacometti JA, Bianchi RF. Eletrical characterization of in situ polymerized polyaniline thin films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2007 ; 143( 1/3): 31-37.[citado 2025 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2007.07.071
Artigo de periodico
Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD (2004)
Criado, Denise ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Pereyra, Inés ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu
Fonte: Materials Science and Engineering B. Unidades: IF, EP
Assuntos: MATERIAIS, MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, FÍSICA DE PLASMAS
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ABNT
CRIADO, Denise et al. Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD. Materials Science and Engineering B, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.017. Acesso em: 10 nov. 2025.
APA
Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Pereyra, I., & Fantini, M. C. de A. (2004). Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD. Materials Science and Engineering B. doi:10.1016/j.mseb.2004.05.017
NLM
Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2004 ;[citado 2025 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.017
Vancouver
Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2004 ;[citado 2025 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.017
Artigo de periodico
'beta'-Ba'B IND.2''O IND.4' nanometric powder obtained from the ternary BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2' system using the polymeric precursor method (2004)
Maia, Lauro J. Q.; Bernardi, Maria Inês Basso; Zanatta, Antonio Ricardo ; Hernandes, Antônio Carlos ; Mastelaro, Valmor Roberto
Fonte: Materials Science and Engineering B. Unidade: IFSC
Assuntos: FILMES FINOS, CRISTALIZAÇÃO, CRESCIMENTO DE CRISTAIS
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ABNT
MAIA, Lauro J. Q. et al. 'beta'-Ba'B IND.2''O IND.4' nanometric powder obtained from the ternary BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2' system using the polymeric precursor method. Materials Science and Engineering B, v. 107, n. 1, p. 33-38, 2004Tradução . . Acesso em: 10 nov. 2025.
APA
Maia, L. J. Q., Bernardi, M. I. B., Zanatta, A. R., Hernandes, A. C., & Mastelaro, V. R. (2004). 'beta'-Ba'B IND.2''O IND.4' nanometric powder obtained from the ternary BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2' system using the polymeric precursor method. Materials Science and Engineering B, 107( 1), 33-38.
NLM
Maia LJQ, Bernardi MIB, Zanatta AR, Hernandes AC, Mastelaro VR. 'beta'-Ba'B IND.2''O IND.4' nanometric powder obtained from the ternary BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2' system using the polymeric precursor method. Materials Science and Engineering B. 2004 ; 107( 1): 33-38.[citado 2025 nov. 10 ]
Vancouver
Maia LJQ, Bernardi MIB, Zanatta AR, Hernandes AC, Mastelaro VR. 'beta'-Ba'B IND.2''O IND.4' nanometric powder obtained from the ternary BaO-'B IND.2'O IND.3'-Ti'O IND.2' system using the polymeric precursor method. Materials Science and Engineering B. 2004 ; 107( 1): 33-38.[citado 2025 nov. 10 ]

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