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USP affiliated authors
- silva, tiago fiorini da (~2)
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- rodrigues, cleber lima (~1)
Date published
- 2016 (~2)
Subjects
- espalhamento (2)
- análise de dados (1)
- detetores (1)
- espectroscopia (1)
- feixes (1)

Trabalho de evento-resumo
RBS analysis of anodized porous films (2016)
Delgado-Silva, Adriana de Oliveira; Silva, Tiago Fiorini da ; Carossi, Lory Cantelli ; Trivinho-Strixino, Francisco; Antonio, César Augusto; Cruz, Nilson Cristino da ; Tabacniks, Manfredo Harri
Source: Posters - Resumo. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA, ESPALHAMENTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
DELGADO-SILVA, Adriana de Oliveira et al. RBS analysis of anodized porous films. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Delgado-Silva, A. de O., Silva, T. F. da, Carossi, L. C., Trivinho-Strixino, F., Antonio, C. A., Cruz, N. C. da, & Tabacniks, M. H. (2016). RBS analysis of anodized porous films. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf
NLM
Delgado-Silva A de O, Silva TF da, Carossi LC, Trivinho-Strixino F, Antonio CA, Cruz NC da, Tabacniks MH. RBS analysis of anodized porous films [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf
Vancouver
Delgado-Silva A de O, Silva TF da, Carossi LC, Trivinho-Strixino F, Antonio CA, Cruz NC da, Tabacniks MH. RBS analysis of anodized porous films [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Source: Posters - Resumo. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf

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