ReP USP - Resultado da busca

Filtros : "ESPALHAMENTO" "RIZZUTTO, MARCIA DE ALMEIDA" Removido: "DIFRAÇÃO POR RAIOS X" Limpar

Filtros

USP affiliated authors
- added, nemitala (2)
- rizzutto, marcia de almeida (2)
- tabacniks, manfredo harri (2)
- liguori neto, raphael (1)
- rodrigues, cleber lima (1)

Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Source: Posters - Resumo. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Study of composition of films using ERDA technique (2002)
Added, Nemitala; Chubaci, Jose Fernando Diniz; Liguori Neto, Raphael; Tabacniks, Manfredo Harri ; Rizzutto, Marcia de Almeida; Santos Junior, W A; Pedro, Elisa
Source: Programa e Resumos. Conference titles: Reunião de trabalho sobre fisica nuclear no brasil. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FÍSICA DE PARTÍCULAS, COLISÕES, ESPALHAMENTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ADDED, Nemitala et al. Study of composition of films using ERDA technique. 2002, Anais.. São Paulo: SBF, 2002. . Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Added, N., Chubaci, J. F. D., Liguori Neto, R., Tabacniks, M. H., Rizzutto, M. de A., Santos Junior, W. A., & Pedro, E. (2002). Study of composition of films using ERDA technique. In Programa e Resumos. São Paulo: SBF.
NLM
Added N, Chubaci JFD, Liguori Neto R, Tabacniks MH, Rizzutto M de A, Santos Junior WA, Pedro E. Study of composition of films using ERDA technique. Programa e Resumos. 2002 ;[citado 2024 out. 31 ]
Vancouver
Added N, Chubaci JFD, Liguori Neto R, Tabacniks MH, Rizzutto M de A, Santos Junior WA, Pedro E. Study of composition of films using ERDA technique. Programa e Resumos. 2002 ;[citado 2024 out. 31 ]

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo 2012 - 2024