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Artigo de periodico
How the Size and Density of Charge-Transfer Excitons Depend on Heterojunction’s Architecture (2021)
Varella, Marcio ; Stojanovic, Ljiljana ; Vuong, Van Quan; Irle, Stephan ; Niehaus, Thomas ; Barbatti, Mario
Source: Journal of Physical Chemistry C. Unidade: IF
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, NANOCIÊNCIA, NANOTECNOLOGIA, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, ESPALHAMENTO, FÍSICA MOLECULAR, ESPECTROSCOPIA MOLECULAR
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ABNT
VARELLA, Marcio et al. How the Size and Density of Charge-Transfer Excitons Depend on Heterojunction’s Architecture. Journal of Physical Chemistry C, v. 125, n. 10, p. 5458-5474, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c10762. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Varella, M., Stojanovic, L., Vuong, V. Q., Irle, S., Niehaus, T., & Barbatti, M. (2021). How the Size and Density of Charge-Transfer Excitons Depend on Heterojunction’s Architecture. Journal of Physical Chemistry C, 125( 10), 5458-5474. doi:10.1021/acs.jpcc.0c10762
NLM
Varella M, Stojanovic L, Vuong VQ, Irle S, Niehaus T, Barbatti M. How the Size and Density of Charge-Transfer Excitons Depend on Heterojunction’s Architecture [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2021 ; 125( 10): 5458-5474.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c10762
Vancouver
Varella M, Stojanovic L, Vuong VQ, Irle S, Niehaus T, Barbatti M. How the Size and Density of Charge-Transfer Excitons Depend on Heterojunction’s Architecture [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2021 ; 125( 10): 5458-5474.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c10762
Parte de monografia/livro
Espalhamento de luz dinâmico aplicado à caracterização de nanopartículas (2015)
Ramos, Ana Paula
Source: Técnicas de nanocaracterização. Unidade: FFCLRP
Subjects: NANOTECNOLOGIA, ESPALHAMENTO
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ABNT
RAMOS, Ana Paula. Espalhamento de luz dinâmico aplicado à caracterização de nanopartículas. Técnicas de nanocaracterização. Tradução . Rio de Janeiro: Elsevier, 2015. v. 3. . . Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Ramos, A. P. (2015). Espalhamento de luz dinâmico aplicado à caracterização de nanopartículas. In Técnicas de nanocaracterização (Vol. 3). Rio de Janeiro: Elsevier.
NLM
Ramos AP. Espalhamento de luz dinâmico aplicado à caracterização de nanopartículas. In: Técnicas de nanocaracterização. Rio de Janeiro: Elsevier; 2015. [citado 2024 out. 31 ]
Vancouver
Ramos AP. Espalhamento de luz dinâmico aplicado à caracterização de nanopartículas. In: Técnicas de nanocaracterização. Rio de Janeiro: Elsevier; 2015. [citado 2024 out. 31 ]
Artigo de periodico
Structural characterization of chloride salt of conducting polyaniline obtained by XRD, SAXD, SAXS and SEM (2013)
Sanches, E. A.; Soares, J. C.; Mafud, A. C.; Fernandes, E. Giuliani Ramos; Leite, F. L.; Mascarenhas, Yvonne Primerano
Source: Journal of Molecular Structure. Unidade: IFSC
Subjects: SAIS, DIFRAÇÃO DA LUZ, NANOTECNOLOGIA, ESPALHAMENTO
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ABNT
SANCHES, E. A. et al. Structural characterization of chloride salt of conducting polyaniline obtained by XRD, SAXD, SAXS and SEM. Journal of Molecular Structure, v. 1036, p. 121-126, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.molstruc.2012.09.084. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Sanches, E. A., Soares, J. C., Mafud, A. C., Fernandes, E. G. R., Leite, F. L., & Mascarenhas, Y. P. (2013). Structural characterization of chloride salt of conducting polyaniline obtained by XRD, SAXD, SAXS and SEM. Journal of Molecular Structure, 1036, 121-126. doi:10.1016/j.molstruc.2012.09.084
NLM
Sanches EA, Soares JC, Mafud AC, Fernandes EGR, Leite FL, Mascarenhas YP. Structural characterization of chloride salt of conducting polyaniline obtained by XRD, SAXD, SAXS and SEM [Internet]. Journal of Molecular Structure. 2013 ; 1036 121-126.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.molstruc.2012.09.084
Vancouver
Sanches EA, Soares JC, Mafud AC, Fernandes EGR, Leite FL, Mascarenhas YP. Structural characterization of chloride salt of conducting polyaniline obtained by XRD, SAXD, SAXS and SEM [Internet]. Journal of Molecular Structure. 2013 ; 1036 121-126.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.molstruc.2012.09.084
Artigo de periodico
Fano resonance in heavily doped porous silicon (2011)
Pusep, Yuri A ; Rodrigues, A. D.; Borrero-González, L. J.; Acquaroli, L. N.; Urteaga, R.; Arce, R. D.; Koropecki, R. R.; Tirado, M.; Comedi, D.
Source: Journal of Raman Spectroscopy. Unidade: IFSC
Subjects: ESPALHAMENTO, LUMINESCÊNCIA, SILÍCIO, SEMICONDUTORES, NANOTECNOLOGIA
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ABNT
PUSEP, Yuri A et al. Fano resonance in heavily doped porous silicon. Journal of Raman Spectroscopy, v. 42, n. 6, p. 1405-1407, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/jrs.2870. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Pusep, Y. A., Rodrigues, A. D., Borrero-González, L. J., Acquaroli, L. N., Urteaga, R., Arce, R. D., et al. (2011). Fano resonance in heavily doped porous silicon. Journal of Raman Spectroscopy, 42( 6), 1405-1407. doi:10.1002/jrs.2870
NLM
Pusep YA, Rodrigues AD, Borrero-González LJ, Acquaroli LN, Urteaga R, Arce RD, Koropecki RR, Tirado M, Comedi D. Fano resonance in heavily doped porous silicon [Internet]. Journal of Raman Spectroscopy. 2011 ; 42( 6): 1405-1407.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1002/jrs.2870
Vancouver
Pusep YA, Rodrigues AD, Borrero-González LJ, Acquaroli LN, Urteaga R, Arce RD, Koropecki RR, Tirado M, Comedi D. Fano resonance in heavily doped porous silicon [Internet]. Journal of Raman Spectroscopy. 2011 ; 42( 6): 1405-1407.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1002/jrs.2870

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