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Artigo de periodico
On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas (2019)
Shaw, Santosh; Silva, Tiago Fiorini da ; Mohapatra, Pratyasha; Mendivelso-Perez, Deyny; Tian, Xinchun; Naab, Fabian; Rodrigues, Cleber Lima; Smith, Emily A. ; Cademartiri, Ludovico
Fonte: Physical Chemistry Chemical Physics. Unidade: IF
Assuntos: FEIXES, ESPALHAMENTO, FÍSICA NUCLEAR, FÍSICA DE PLASMAS, NANOPARTÍCULAS
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ABNT
SHAW, Santosh et al. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas. Physical Chemistry Chemical Physics, v. 21, n. 3, p. 1614--1622, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a. Acesso em: 20 jul. 2024.
APA
Shaw, S., Silva, T. F. da, Mohapatra, P., Mendivelso-Perez, D., Tian, X., Naab, F., et al. (2019). On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas. Physical Chemistry Chemical Physics, 21( 3), 1614--1622. doi:10.1039/c8cp06890a
NLM
Shaw S, Silva TF da, Mohapatra P, Mendivelso-Perez D, Tian X, Naab F, Rodrigues CL, Smith EA, Cademartiri L. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2019 ; 21( 3): 1614--1622.[citado 2024 jul. 20 ] Available from: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a
Vancouver
Shaw S, Silva TF da, Mohapatra P, Mendivelso-Perez D, Tian X, Naab F, Rodrigues CL, Smith EA, Cademartiri L. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2019 ; 21( 3): 1614--1622.[citado 2024 jul. 20 ] Available from: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a
Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Fonte: Posters - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
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ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 20 jul. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 jul. 20 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 jul. 20 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Trabalho de evento-anais periodico
Physics with rare Ion beams in Brazil (2012)
Lichtenthäler, Rubens; Lepine-Szily, Alinka; Guimaraes, Valdir; Faria, Pedro Neto de; Mendes Junior, Djalma Rosa; Barioni, Adriana; Pires, Kelly Cristina Cezaretto; Morais, Maria Carmen; Morcelle, Viviane; Pampa Condori, Rubén
Fonte: AIP Conference Proceedings. Nome do evento: Latin American Symposium on Nuclear Physics and Applications. Unidade: IF
Assuntos: REAÇÕES NUCLEARES, ESPALHAMENTO, FEIXES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LICHTENTHÄLER, Rubens et al. Physics with rare Ion beams in Brazil. AIP Conference Proceedings. New York: AIP. Disponível em: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS001423000001000119000001&idtype=cvips&doi=10.1063/1.3688791&prog=normal. Acesso em: 20 jul. 2024. , 2012
APA
Lichtenthäler, R., Lepine-Szily, A., Guimaraes, V., Faria, P. N. de, Mendes Junior, D. R., Barioni, A., et al. (2012). Physics with rare Ion beams in Brazil. AIP Conference Proceedings. New York: AIP. Recuperado de http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS001423000001000119000001&idtype=cvips&doi=10.1063/1.3688791&prog=normal
NLM
Lichtenthäler R, Lepine-Szily A, Guimaraes V, Faria PN de, Mendes Junior DR, Barioni A, Pires KCC, Morais MC, Morcelle V, Pampa Condori R. Physics with rare Ion beams in Brazil [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2012 ;1423 119-121.[citado 2024 jul. 20 ] Available from: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS001423000001000119000001&idtype=cvips&doi=10.1063/1.3688791&prog=normal
Vancouver
Lichtenthäler R, Lepine-Szily A, Guimaraes V, Faria PN de, Mendes Junior DR, Barioni A, Pires KCC, Morais MC, Morcelle V, Pampa Condori R. Physics with rare Ion beams in Brazil [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2012 ;1423 119-121.[citado 2024 jul. 20 ] Available from: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS001423000001000119000001&idtype=cvips&doi=10.1063/1.3688791&prog=normal

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