Tomografia de resistividade elétrica em ambiente HPC: revisão de um estudo recente (2025)
Source: Anais. Conference titles: Escola Regional de Alto Desempenho de São Paulo - ERAD-SP. Unidade: IME
Subjects: TOMOGRAFIA, COMPUTAÇÃO APLICADA
ABNT
LANNES, Ana Clara e GOLDMAN, Alfredo. Tomografia de resistividade elétrica em ambiente HPC: revisão de um estudo recente. 2025, Anais.. Porto Alegre: SBC, 2025. Disponível em: https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744. Acesso em: 27 nov. 2025.APA
Lannes, A. C., & Goldman, A. (2025). Tomografia de resistividade elétrica em ambiente HPC: revisão de um estudo recente. In Anais. Porto Alegre: SBC. doi:10.5753/eradsp.2025.9744NLM
Lannes AC, Goldman A. Tomografia de resistividade elétrica em ambiente HPC: revisão de um estudo recente [Internet]. Anais. 2025 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744Vancouver
Lannes AC, Goldman A. Tomografia de resistividade elétrica em ambiente HPC: revisão de um estudo recente [Internet]. Anais. 2025 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744
